Advances in X-Ray Analysis : Proceedings of the 20th Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis held August 11-13, 1971 / Edited by Kurt F.J. Heinrich and C.S. Barrett, J.B. Newkirk and C.O. Ruud |
Autore | Heinrich, Kurt F. J. |
Pubbl/distr/stampa | New York : Plenum Press, 1972 |
Descrizione fisica | xii, 573 p. ; 25 cm |
Disciplina | 548 |
Collana | Advances in X-Ray Analysis |
Soggetto non controllato |
Cristallografia
Raggi x |
ISBN | 0-306-38115-X |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNINA-990001090560403321 |
Heinrich, Kurt F. J. | ||
New York : Plenum Press, 1972 | ||
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Quantitative electron probe microanalysis. Proceedings of a seminar held at the National Bureau of Standards, Gaithersburg(Maryland) 12-13 june, 1967 / K.F.J. Heinrich |
Autore | Heinrich, Kurt F. J. |
Pubbl/distr/stampa | Washington : United Started Departm. of Commerce, 1968 |
Descrizione fisica | n.v.p. ill. 30 cm |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | ita |
Record Nr. | UNINA-990000358170403321 |
Heinrich, Kurt F. J. | ||
Washington : United Started Departm. of Commerce, 1968 | ||
Materiale a stampa | ||
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