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Expert systems and probabilistic network models / Enrique Castillo, José Manuel Gutiérrez, Ali S. Hadi
Expert systems and probabilistic network models / Enrique Castillo, José Manuel Gutiérrez, Ali S. Hadi
Autore Castillo, Enrique
Pubbl/distr/stampa New York : Springer Verlag, c1997
Descrizione fisica xiv, 605 p. ; 24 cm
Disciplina 006.3
Altri autori (Persone) Gutierrez, Josè Manuel
Hadi, Ali S.
Collana Monograph in computer science
Soggetto non controllato Informatica applicata alla statistica
Reti neurali
Sistemi esperti
ISBN 0-387-94858-9
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-990002871670403321
Castillo, Enrique  
New York : Springer Verlag, c1997
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Extreme value and related models with applications in engineering and science / Enrique Castillo ... [et al.]
Extreme value and related models with applications in engineering and science / Enrique Castillo ... [et al.]
Pubbl/distr/stampa Hoboken, N.J. : Wiley, c2005
Descrizione fisica xiv, 362 p. : ill. ; 24 cm
Disciplina 519.24
Altri autori (Persone) Sarabia, José Marìa
Balakrishnan, N. <1956- >
Hadi, Ali S.
Castillo, Enrique, 1946-author
Collana Wiley series in probability and statistics
Soggetto topico Extreme value theory
Random variables
Mathematical statistics
ISBN 047167172X
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISALENTO-991000872729707536
Hoboken, N.J. : Wiley, c2005
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Regression analysis by example / Samprit Chatterjee, Ali S. Hadi, Bertram Price
Regression analysis by example / Samprit Chatterjee, Ali S. Hadi, Bertram Price
Autore Chatterjee, Samprit
Edizione [3rd ed]
Pubbl/distr/stampa New York : Wiley, 2000
Descrizione fisica xv, 359 p. ; 24 cm
Disciplina 519.5
Altri autori (Persone) Hadi, Ali S.
Price, Bertram
Collana Wiley series in probability and statistics
ISBN 0-471-31946-5
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione ita
Record Nr. UNINA-990003738430403321
Chatterjee, Samprit  
New York : Wiley, 2000
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Regression analysis by example / Samprit Chatterjee, Ali S. Hadi, Bertram Price
Regression analysis by example / Samprit Chatterjee, Ali S. Hadi, Bertram Price
Autore Chatterjee, Samprit
Edizione [3nd ed.]
Pubbl/distr/stampa New York : John Wiley & Sons, 2000
Descrizione fisica XV, 359 p. : ill. ; 25 cm
Altri autori (Persone) Hadi, Ali S.
Price, Bertram
Collana Wiley series in probability and statistics
ISBN 0-471-31946-5
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-990000409540403321
Chatterjee, Samprit
New York : John Wiley & Sons, 2000
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Regression analysis by example / Samprit Chatterjee, Ali S. Hadi, Bertram Price
Regression analysis by example / Samprit Chatterjee, Ali S. Hadi, Bertram Price
Autore Chatterjee, Samprit
Pubbl/distr/stampa New York : Wiley, 1977
Descrizione fisica xiv, 228 p. ; 24 cm
Disciplina 519.5
Altri autori (Persone) Hadi, Ali S.
Price, Bertram
Collana Wiley series in probability and statistics and mathematical statistics
ISBN 0-471-01521-0
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-990003945220403321
Chatterjee, Samprit  
New York : Wiley, 1977
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Sensitivity analysis in linear regression / (by) Samprit Chatterjee, Ali S. Hadi
Sensitivity analysis in linear regression / (by) Samprit Chatterjee, Ali S. Hadi
Autore Chatterjee, Samprit
Pubbl/distr/stampa New York : Wiley & Sons, copyr. 1988
Descrizione fisica XIV,315 p. ill. 24 cm
Disciplina 519.5'36-DC19
Collana Wiley series in probability and mathematical statistics
ISBN 0-471-82216-7
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione ita
Record Nr. UNINA-990000363430403321
Chatterjee, Samprit  
New York : Wiley & Sons, copyr. 1988
Materiale a stampa
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Sensitivity analysis in linear regression / Samprit Chatterjee, Ali S. Hadi.-
Sensitivity analysis in linear regression / Samprit Chatterjee, Ali S. Hadi.-
Autore Chatterjee, Samprit
Pubbl/distr/stampa New York : J. Wiley & Sons, 1988
Descrizione fisica XVI+315 p.,23 cm
Disciplina 519.5
Collana Wiley series in probability and mathematical statistics
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione ita
Record Nr. UNINA-990006719130403321
Chatterjee, Samprit  
New York : J. Wiley & Sons, 1988
Materiale a stampa
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Sensitivity analysis in linear regression / Samprit Chatterjee, Ali S. Hadi
Sensitivity analysis in linear regression / Samprit Chatterjee, Ali S. Hadi
Autore Chatterjee, Samprit
Pubbl/distr/stampa New York : Wiley, c1988
Descrizione fisica xiv, 315 p. ; 24 cm.
Disciplina 519.536
Altri autori (Persone) Hadi, Ali S.
Collana Wiley series in probability and mathematical statistics. Applied probability and statistics
Soggetto topico Analisi della regressione
Statistica - Metodi matematici
ISBN 0471822167
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione |||
Record Nr. UNISALENTO-991000724989707536
Chatterjee, Samprit  
New York : Wiley, c1988
Materiale a stampa
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Sensivity analysis in linear regression / Samprit Chatterjee, Ali S. Hadi
Sensivity analysis in linear regression / Samprit Chatterjee, Ali S. Hadi
Autore Chatterjee, Samprit
Pubbl/distr/stampa New York : John Wiley, 1988
Descrizione fisica xiv, 315 p. ; 24 cm
Disciplina 519
Soggetto non controllato Regressione
Robustezza nella regressione
ISBN 0471822167
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione und
Record Nr. UNINA-990002526140403321
Chatterjee, Samprit  
New York : John Wiley, 1988
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