Expert systems and probabilistic network models / Enrique Castillo, José Manuel Gutiérrez, Ali S. Hadi |
Autore | Castillo, Enrique |
Pubbl/distr/stampa | New York : Springer Verlag, c1997 |
Descrizione fisica | xiv, 605 p. ; 24 cm |
Disciplina | 006.3 |
Altri autori (Persone) |
Gutierrez, Josè Manuel
Hadi, Ali S. |
Collana | Monograph in computer science |
Soggetto non controllato |
Informatica applicata alla statistica
Reti neurali Sistemi esperti |
ISBN | 0-387-94858-9 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNINA-990002871670403321 |
Castillo, Enrique
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New York : Springer Verlag, c1997 | ||
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Extreme value and related models with applications in engineering and science / Enrique Castillo ... [et al.] |
Pubbl/distr/stampa | Hoboken, N.J. : Wiley, c2005 |
Descrizione fisica | xiv, 362 p. : ill. ; 24 cm |
Disciplina | 519.24 |
Altri autori (Persone) |
Sarabia, José Marìa
Balakrishnan, N. <1956- > Hadi, Ali S. Castillo, Enrique, 1946-author |
Collana | Wiley series in probability and statistics |
Soggetto topico |
Extreme value theory
Random variables Mathematical statistics |
ISBN | 047167172X |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISALENTO-991000872729707536 |
Hoboken, N.J. : Wiley, c2005 | ||
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Regression analysis by example / Samprit Chatterjee, Ali S. Hadi, Bertram Price |
Autore | Chatterjee, Samprit |
Edizione | [3rd ed] |
Pubbl/distr/stampa | New York : Wiley, 2000 |
Descrizione fisica | xv, 359 p. ; 24 cm |
Disciplina | 519.5 |
Altri autori (Persone) |
Hadi, Ali S.
Price, Bertram |
Collana | Wiley series in probability and statistics |
ISBN | 0-471-31946-5 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | ita |
Record Nr. | UNINA-990003738430403321 |
Chatterjee, Samprit
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New York : Wiley, 2000 | ||
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Regression analysis by example / Samprit Chatterjee, Ali S. Hadi, Bertram Price |
Autore | Chatterjee, Samprit |
Edizione | [3nd ed.] |
Pubbl/distr/stampa | New York : John Wiley & Sons, 2000 |
Descrizione fisica | XV, 359 p. : ill. ; 25 cm |
Altri autori (Persone) |
Hadi, Ali S.
Price, Bertram |
Collana | Wiley series in probability and statistics |
ISBN | 0-471-31946-5 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNINA-990000409540403321 |
Chatterjee, Samprit | ||
New York : John Wiley & Sons, 2000 | ||
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Regression analysis by example / Samprit Chatterjee, Ali S. Hadi, Bertram Price |
Autore | Chatterjee, Samprit |
Pubbl/distr/stampa | New York : Wiley, 1977 |
Descrizione fisica | xiv, 228 p. ; 24 cm |
Disciplina | 519.5 |
Altri autori (Persone) |
Hadi, Ali S.
Price, Bertram |
Collana | Wiley series in probability and statistics and mathematical statistics |
ISBN | 0-471-01521-0 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNINA-990003945220403321 |
Chatterjee, Samprit
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New York : Wiley, 1977 | ||
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Sensitivity analysis in linear regression / (by) Samprit Chatterjee, Ali S. Hadi |
Autore | Chatterjee, Samprit |
Pubbl/distr/stampa | New York : Wiley & Sons, copyr. 1988 |
Descrizione fisica | XIV,315 p. ill. 24 cm |
Disciplina | 519.5'36-DC19 |
Collana | Wiley series in probability and mathematical statistics |
ISBN | 0-471-82216-7 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | ita |
Record Nr. | UNINA-990000363430403321 |
Chatterjee, Samprit
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New York : Wiley & Sons, copyr. 1988 | ||
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Sensitivity analysis in linear regression / Samprit Chatterjee, Ali S. Hadi.- |
Autore | Chatterjee, Samprit |
Pubbl/distr/stampa | New York : J. Wiley & Sons, 1988 |
Descrizione fisica | XVI+315 p.,23 cm |
Disciplina | 519.5 |
Collana | Wiley series in probability and mathematical statistics |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | ita |
Record Nr. | UNINA-990006719130403321 |
Chatterjee, Samprit
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New York : J. Wiley & Sons, 1988 | ||
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Sensitivity analysis in linear regression / Samprit Chatterjee, Ali S. Hadi |
Autore | Chatterjee, Samprit |
Pubbl/distr/stampa | New York : Wiley, c1988 |
Descrizione fisica | xiv, 315 p. ; 24 cm. |
Disciplina | 519.536 |
Altri autori (Persone) | Hadi, Ali S. |
Collana | Wiley series in probability and mathematical statistics. Applied probability and statistics |
Soggetto topico |
Analisi della regressione
Statistica - Metodi matematici |
ISBN | 0471822167 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | ||| |
Record Nr. | UNISALENTO-991000724989707536 |
Chatterjee, Samprit
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New York : Wiley, c1988 | ||
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Sensivity analysis in linear regression / Samprit Chatterjee, Ali S. Hadi |
Autore | Chatterjee, Samprit |
Pubbl/distr/stampa | New York : John Wiley, 1988 |
Descrizione fisica | xiv, 315 p. ; 24 cm |
Disciplina | 519 |
Soggetto non controllato |
Regressione
Robustezza nella regressione |
ISBN | 0471822167 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | und |
Record Nr. | UNINA-990002526140403321 |
Chatterjee, Samprit
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New York : John Wiley, 1988 | ||
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