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Gate Dielectric Integrity: Material, Process, and Tool Qualification
| Gate Dielectric Integrity: Material, Process, and Tool Qualification |
| Autore | Gupta D. C |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : American Society for Testing & Materials, 2000 |
| Disciplina | 621.3815/2 |
| Soggetto topico |
Electrical & Computer Engineering
Engineering & Applied Sciences Electrical Engineering |
| ISBN | 0-8031-5431-3 |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | Gate Dielectric Integrity |
| Record Nr. | UNINA-9910164285003321 |
Gupta D. C
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| [Place of publication not identified], : American Society for Testing & Materials, 2000 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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Silicon Processing
| Silicon Processing |
| Autore | Gupta D. C |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : American Society for Testing & Materials, 1983 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (559 pages) |
| Disciplina | 548.5 |
| Soggetto topico |
Crystal growth
Metal crystals |
| ISBN | 0-8031-4871-2 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910164715603321 |
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Gupta D. C
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| [Place of publication not identified], : American Society for Testing & Materials, 1983 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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