top

  Info

  • Utilizzare la checkbox di selezione a fianco di ciascun documento per attivare le funzionalità di stampa, invio email, download nei formati disponibili del (i) record.

  Info

  • Utilizzare questo link per rimuovere la selezione effettuata.
Recent improvements in time-domain EMC measurement system / / J. W. Adams; A. R. Ondrejka; K. H. Cavcey; J. E. Cruz; H. W. Medley; J. H. Grosvenor Jr
Recent improvements in time-domain EMC measurement system / / J. W. Adams; A. R. Ondrejka; K. H. Cavcey; J. E. Cruz; H. W. Medley; J. H. Grosvenor Jr
Autore Adams J. W (John Welch), <1932->
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1989
Descrizione fisica 1 online resource
Altri autori (Persone) CavceyKenneth H <1938-> (Kenneth Hale)
CruzJ. E
GrosvenorJohn H
MedleyH. W
OndrejkaArthur R
Collana NISTIR
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910710506003321
Adams J. W (John Welch), <1932->  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1989
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Relative permittivity and loss tangent measurement using the NIST 60 mm cylindrical cavity / / Michael D. Janezic, Jolene D. Splett, Raian F. Kaiser, John H. Grosvenor
Relative permittivity and loss tangent measurement using the NIST 60 mm cylindrical cavity / / Michael D. Janezic, Jolene D. Splett, Raian F. Kaiser, John H. Grosvenor
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2005
Descrizione fisica 1 online resource
Altri autori (Persone) GrosvenorJohn H
JanezicMichael D
KaiserRaian F
SplettJolene D
Collana NIST special publication
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910709562003321
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2005
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui