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Empirical evidence for iris match score degradation with time lapse in ICE 2006 / / Sarah E. Baker; Kevin W. Bowyer; Patrick J. Flynn; P. Jonathon Phillips
Empirical evidence for iris match score degradation with time lapse in ICE 2006 / / Sarah E. Baker; Kevin W. Bowyer; Patrick J. Flynn; P. Jonathon Phillips
Autore Baker Sarah (Sarah E.)
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2009
Descrizione fisica 1 online resource
Altri autori (Persone) BakerSarah (Sarah E.)
BowyerKevin W
FlynnP. J (Patrick J.)
PhillipsP. Jonathon
Collana NISTIR
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910710749003321
Baker Sarah (Sarah E.)  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2009
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
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FRVT 2006 and ICE 2006 large-scale results / / P. Jonathon Phillips; W. Todd Scruggs; Alice J. OŽToole; Patrick J. Flynn; Kevin W. Bowyer; Cathy L. Schott; Matthew Sharpe
FRVT 2006 and ICE 2006 large-scale results / / P. Jonathon Phillips; W. Todd Scruggs; Alice J. OŽToole; Patrick J. Flynn; Kevin W. Bowyer; Cathy L. Schott; Matthew Sharpe
Autore Phillips P. Jonathon
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2007
Descrizione fisica 1 online resource
Altri autori (Persone) BoyerKevin W
FlynnP. J (Patrick J.)
O'TooleA. J
PhillipsP. Jonathon
SchottCathy L
ScruggsW. Todd
SharpeMatthew
Collana NISTIR
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910710758003321
Phillips P. Jonathon  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2007
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
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Overview of the multiple biometrics grand challenge / / P. J. Phillips; H. A. Sahibzada; P. J. Flynn; K. W. Bowyer; A. O'Toole; S. Weimer; J. R. Beveridge; B. Draper; D. Bolme; G. H. Givens; Y. M. Lui; J. A. Scallan; W. T. Scruggs
Overview of the multiple biometrics grand challenge / / P. J. Phillips; H. A. Sahibzada; P. J. Flynn; K. W. Bowyer; A. O'Toole; S. Weimer; J. R. Beveridge; B. Draper; D. Bolme; G. H. Givens; Y. M. Lui; J. A. Scallan; W. T. Scruggs
Autore Phillips P. J
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2009
Descrizione fisica 1 online resource
Altri autori (Persone) BeveridgeJ. R
BolmeD
BowyerK. W
DraperB
FlynnP. J (Patrick J.)
GivensGeof H
LuiY. M
O'TooleA
PhillipsP. J
SahibzadaH. A
ScallanJ. A
ScruggsW. T
WeimerS
Collana NISTIR
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910710750203321
Phillips P. J  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2009
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
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