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X-ray scattering from semiconductors [[electronic resource] /] / Paul F. Fewster
X-ray scattering from semiconductors [[electronic resource] /] / Paul F. Fewster
Autore Fewster Paul F
Edizione [2nd ed.]
Pubbl/distr/stampa River Edge, NJ, : Imperial College Press, c2003
Descrizione fisica 1 online resource (310 p.)
Disciplina 539.7222
Soggetto topico X-rays - Scattering
Semiconductors
Soggetto genere / forma Electronic books.
ISBN 1-62870-231-1
1-281-86636-9
9786611866365
1-86094-458-2
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Nota di contenuto Copyright; Preface; Contents; 1 - An Introduction to Semiconductor Materials; 2 - An Introduction to X-Ray Scattering; 3 - Equipment for Measuring Diffraction Patterns; 4 - A Practical Guide to the Evaluation of Structural Parameters; Appendix 1; Subject Index
Record Nr. UNINA-9910451134603321
Fewster Paul F  
River Edge, NJ, : Imperial College Press, c2003
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
X-ray scattering from semiconductors [[electronic resource] /] / Paul F. Fewster
X-ray scattering from semiconductors [[electronic resource] /] / Paul F. Fewster
Autore Fewster Paul F
Edizione [2nd ed.]
Pubbl/distr/stampa River Edge, NJ, : Imperial College Press, c2003
Descrizione fisica 1 online resource (310 p.)
Disciplina 539.7222
Soggetto topico X-rays - Scattering
Semiconductors
ISBN 1-62870-231-1
1-281-86636-9
9786611866365
1-86094-458-2
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Nota di contenuto Copyright; Preface; Contents; 1 - An Introduction to Semiconductor Materials; 2 - An Introduction to X-Ray Scattering; 3 - Equipment for Measuring Diffraction Patterns; 4 - A Practical Guide to the Evaluation of Structural Parameters; Appendix 1; Subject Index
Record Nr. UNINA-9910784014703321
Fewster Paul F  
River Edge, NJ, : Imperial College Press, c2003
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui