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Electronic thin film science : for electrical engineers and materials scientists / King-Ning Tu, James W. Mayer, Leonard C. Feldman
| Electronic thin film science : for electrical engineers and materials scientists / King-Ning Tu, James W. Mayer, Leonard C. Feldman |
| Autore | Tu, K. N. |
| Pubbl/distr/stampa | New York : Macmillan, c 1992 |
| Descrizione fisica | xvii, 428 p. ; 25 cm |
| Disciplina | 621.38152 |
| Altri autori (Persone) |
Mayer, James W.
Feldman, Leonard C. |
| Soggetto topico | Microelettronica - Semiconduttori - Dispositivi a film sottile |
| ISBN | 0024215759 |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISALENTO-991000160989707536 |
Tu, K. N.
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| New York : Macmillan, c 1992 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. del Salento | ||
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Fundamentals of nanoscale film analysis / Terry L. Alford, Leonard C. Feldman and James W. Mayer
| Fundamentals of nanoscale film analysis / Terry L. Alford, Leonard C. Feldman and James W. Mayer |
| Autore | Alford, Terry L. |
| Pubbl/distr/stampa | New York, N.Y. ; London : Springer, c2007 |
| Descrizione fisica | xiv, 336 p. : ill. ; 25 cm |
| Disciplina | 621.38152 |
| Altri autori (Persone) |
Feldman, Leonard C.
Mayer, James W., 1930- |
| Soggetto topico |
Thin films
Nanostructured materials |
| ISBN |
9780387292601
0387292608 |
| Classificazione | LC QC176.83 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISALENTO-991000377489707536 |
|
Alford, Terry L.
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| New York, N.Y. ; London : Springer, c2007 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. del Salento | ||
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Fundamentals of surface and thin film analysis / L.C. Feldman, J.W. Mayer
| Fundamentals of surface and thin film analysis / L.C. Feldman, J.W. Mayer |
| Autore | Mayer, J.W. |
| Pubbl/distr/stampa | Amsterdam : North-Holland Publ. Co., 1986 |
| Descrizione fisica | xviii, 352 p. : ill. ; 24 cm. |
| Altri autori (Persone) | Feldman, Leonard C. |
| Soggetto topico |
Surfaces (Physics)
Thin films |
| Classificazione |
53.7.8
53.7.18 53.8.3 530.4'1 QD506 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISALENTO-991000967869707536 |
|
Mayer, J.W.
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| Amsterdam : North-Holland Publ. Co., 1986 | ||
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Materials analysis by ion channeling : submicron crystallography / Leonard Feldman, James W. Mayer, S. Thomas Picraux
| Materials analysis by ion channeling : submicron crystallography / Leonard Feldman, James W. Mayer, S. Thomas Picraux |
| Autore | Feldman, Leonard C. |
| Pubbl/distr/stampa | New York : Academic Press, 1982 |
| Descrizione fisica | xix, 300 p. : ill. ; 24 cm. |
| Altri autori (Persone) |
Mayer, James W.
Picraux, S. Thomas |
| Soggetto topico |
Channeling
Crystallography Ion beams Solids |
| Classificazione |
53.7.1
53.7.8 620.1'1299 QC176.8 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISALENTO-991001069559707536 |
|
Feldman, Leonard C.
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| New York : Academic Press, 1982 | ||
| Materiale a stampa | ||
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