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High Definition Metrology Based Surface Quality Control and Applications / Shichang Du, Lifeng Xi
High Definition Metrology Based Surface Quality Control and Applications / Shichang Du, Lifeng Xi
Autore Du, Shichang
Pubbl/distr/stampa Singapore, : Springer, 2019
Descrizione fisica XIV, 329 p. : ill. ; 24 cm
Disciplina 530.417(Fisica superficiale)
620.1(Scienze dei materiali)
658.4(Controllo di qualità)
530.4175(Film sottili)
623.045(Ingegneria meccanica)
Altri autori (Persone) Xi, Lifeng
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN0126793
Du, Shichang  
Singapore, : Springer, 2019
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
Opac: Controlla la disponibilità qui
High Definition Metrology Based Surface Quality Control and Applications / Shichang Du, Lifeng Xi
High Definition Metrology Based Surface Quality Control and Applications / Shichang Du, Lifeng Xi
Autore Du, Shichang
Edizione [Singapore : Springer, 2019]
Pubbl/distr/stampa XIV, 329 p., : ill. ; 24 cm
Descrizione fisica Pubblicazione in formato elettronico
Disciplina 530.417(Fisica superficiale)
620.1(Scienza dei materiali)
658.4(Controllo di qualità)
530.4175(Film sottili)
623.045(Ingegneria meccanica)
Altri autori (Persone) Xi, Lifeng
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAMPANIA-SUN0126793
Du, Shichang  
XIV, 329 p., : ill. ; 24 cm
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
Opac: Controlla la disponibilità qui