Info
- Utilizzare la checkbox di selezione a fianco di ciascun documento per attivare le funzionalità di stampa, invio email, download nei formati disponibili del (i) record.
Laser Measurement Technology : Fundamentals and Applications / Axel Donges, Reinhard Noll
| Laser Measurement Technology : Fundamentals and Applications / Axel Donges, Reinhard Noll |
| Autore | Donges, Axel |
| Pubbl/distr/stampa | Berlin ; Heidelberg, : Springer, 2015 |
| Descrizione fisica | xiv, 422 p. : ill. ; 24 cm |
| Altri autori (Persone) | Noll, Reinhard |
| Soggetto topico |
78-XX - Optics, electromagnetic theory [MSC 2020]
00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020] 78A40 - Waves and radiation in optics and electromagnetic theory [MSC 2020] |
| Soggetto non controllato |
Holografic InterferometryInline Process Control
Laser Beam Shaping and Guiding Laser Doppler Methods Laser Interferometry Laser Measurement Technology Laser Spectroscopy Laser-Matter Interaction Properties of Laser Radiation Speckle Measurements Methods |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Titolo uniforme | |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN0133391 |
Donges, Axel
|
||
| Berlin ; Heidelberg, : Springer, 2015 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli | ||
| ||
Laser Measurement Technology : Fundamentals and Applications / Axel Donges, Reinhard Noll
| Laser Measurement Technology : Fundamentals and Applications / Axel Donges, Reinhard Noll |
| Autore | Donges, Axel |
| Edizione | [Berlin] |
| Pubbl/distr/stampa | xiv, 422 p., : ill. ; 24 cm |
| Descrizione fisica | Pubblicazione in formato elettronico |
| Altri autori (Persone) | Noll, Reinhard |
| Soggetto topico |
78-XX - Optics, electromagnetic theory [MSC 2020]
00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020] 78A40 - Waves and radiation in optics and electromagnetic theory [MSC 2020] |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-SUN0133391 |
|
Donges, Axel
|
||
| xiv, 422 p., : ill. ; 24 cm | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli | ||
| ||