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Guide to SMIfill use and development / / Wayne Jansen; Aurelien Delaitre
| Guide to SMIfill use and development / / Wayne Jansen; Aurelien Delaitre |
| Autore | Jansen Wayne |
| Pubbl/distr/stampa | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2010 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Altri autori (Persone) |
DelaitreAurélien
JansenWayne |
| Collana | NISTIR |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910710747803321 |
Jansen Wayne
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| Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2010 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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Mobile forensic reference materials [[electronic resource] ] : a methodology and reification / / Wayne Jansen, Aurélien Delaitre
| Mobile forensic reference materials [[electronic resource] ] : a methodology and reification / / Wayne Jansen, Aurélien Delaitre |
| Autore | Jansen Wayne |
| Pubbl/distr/stampa | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , [2009] |
| Descrizione fisica | 1 online resource (v, 30 pages) : illustrations |
| Altri autori (Persone) | DelaitreAurélien |
| Collana | NISTIR 7617.Computer security |
| Soggetto topico | Mobile communication systems - Government policy - United States |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | Mobile forensic reference materials |
| Record Nr. | UNINA-9910700214603321 |
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Jansen Wayne
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| Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , [2009] | ||
| Materiale a stampa | ||
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Report on the third static analysis tool exposition (SATE 2010) / / vadim Okun, Aurelien Delaitre, Paul E. Black
| Report on the third static analysis tool exposition (SATE 2010) / / vadim Okun, Aurelien Delaitre, Paul E. Black |
| Autore | Okun Vadim |
| Pubbl/distr/stampa | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2011 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Altri autori (Persone) |
BlackPaul E
DelaitreAurélien OkunVadim |
| Collana | NIST special publication |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | Report on the third static analysis tool exposition |
| Record Nr. | UNINA-9910711175403321 |
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Okun Vadim
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| Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2011 | ||
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The second static analysis tool exposition (SATE) 2009 / / vadim Okun, Aurelien Delaitre, Paul E. Black
| The second static analysis tool exposition (SATE) 2009 / / vadim Okun, Aurelien Delaitre, Paul E. Black |
| Autore | Okun Vadim |
| Pubbl/distr/stampa | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2010 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Altri autori (Persone) |
BlackPaul E
DelaitreAurélien OkunVadim |
| Collana | NIST special publication |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | Second static analysis tool exposition |
| Record Nr. | UNINA-9910711175203321 |
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Okun Vadim
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| Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2010 | ||
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