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Applied regression including computing and graphics / R. Dennis Cook, Sanford Weisberg
Applied regression including computing and graphics / R. Dennis Cook, Sanford Weisberg
Autore Cook, Dennis R.
Pubbl/distr/stampa New York [etc.], : John Wiley, ©1999
Descrizione fisica XXVI, 593 p. : ill. ; 24 cm
Disciplina 519.535
Altri autori (Persone) Weisberg, Sanford
Soggetto topico Analisi della regressione
ISBN 047131711X
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAS-RML0263219
Cook, Dennis R.  
New York [etc.], : John Wiley, ©1999
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Cassino
Opac: Controlla la disponibilità qui
Residuals and Influence in Regression / Dennis R. Cook ; Sanford Weisberg
Residuals and Influence in Regression / Dennis R. Cook ; Sanford Weisberg
Autore Cook, Dennis R.
Pubbl/distr/stampa New York : Chapman & Hall, 1982
Descrizione fisica X, 230 p. ; 22 cm
Disciplina 519
Soggetto non controllato Regressione, Robustezza nella regressione
ISBN 041224280
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-990002526170403321
Cook, Dennis R.  
New York : Chapman & Hall, 1982
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Residuals and influence in regression / R. Dennis Cook and Sanford Weisberg
Residuals and influence in regression / R. Dennis Cook and Sanford Weisberg
Autore Cook, Dennis R.
Edizione [1. ed.]
Pubbl/distr/stampa New York ; London : Chapman and Hall, 1982
Descrizione fisica x, 230 p. : fig., tab. ; 21 cm
Disciplina 519.536
Altri autori (Persone) Weisberg, Sanford <1947- >
Collana Monographs on statistics and applied probability
Soggetto non controllato Statistica - Analisi della regressione
ISBN 0-412-24280-X
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-990003747680403321
Cook, Dennis R.  
New York ; London : Chapman and Hall, 1982
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui