top

  Info

  • Utilizzare la checkbox di selezione a fianco di ciascun documento per attivare le funzionalità di stampa, invio email, download nei formati disponibili del (i) record.

  Info

  • Utilizzare questo link per rimuovere la selezione effettuata.
Asymptotic Waveform Evaluation (AWE) technique for frequency domain electromagnetic analysis / / C.R. Cockrell and F.B. Beck
Asymptotic Waveform Evaluation (AWE) technique for frequency domain electromagnetic analysis / / C.R. Cockrell and F.B. Beck
Autore Cockrell C. R.
Pubbl/distr/stampa Hampton, Virginia : , : National Aeronautics and Space Administration, Langley Research Center, , November 1996
Descrizione fisica 1 online resource (13 pages) : illustrations
Collana NASA technical memorandum
Soggetto topico Computational electromagnetics
Method of moments
Radar cross sections
Taylor series
Frequency response
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti Asymptotic Waveform Evaluation
Record Nr. UNINA-9910707912003321
Cockrell C. R.  
Hampton, Virginia : , : National Aeronautics and Space Administration, Langley Research Center, , November 1996
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Higher-order-mode effects on the aperture admittance of a rectangular waveguide covered with dielectric and plasma slabs / / by C.R. Cockrell
Higher-order-mode effects on the aperture admittance of a rectangular waveguide covered with dielectric and plasma slabs / / by C.R. Cockrell
Autore Cockrell C. R.
Pubbl/distr/stampa Washington, D.C. : , : National Aeronautics and Space Administration, , October 1968
Descrizione fisica 1 online resource (43 pages) : illustrations
Collana NASA technical note
Soggetto topico Plasma cells
Polystyrene
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910715047503321
Cockrell C. R.  
Washington, D.C. : , : National Aeronautics and Space Administration, , October 1968
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui