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Frontiers of remote sensing information processing / C.H. Chen
Frontiers of remote sensing information processing / C.H. Chen
Autore Chen, C. H.
Pubbl/distr/stampa New Jersey, : World Scientific, c2003
Descrizione fisica xiv, 614 p. ; 25 cm.
ISBN 9812383441
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAS-RML0282920
Chen, C. H.  
New Jersey, : World Scientific, c2003
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Cassino e del Lazio Meridionale
Opac: Controlla la disponibilità qui
Pattern recognition and artificial intelligence : proceedings of the joint workshop on pattern recognition and artificial intelligence held at Hyannis, Massachusetts june 1-3, 1976 / edited by C. H. Chen
Pattern recognition and artificial intelligence : proceedings of the joint workshop on pattern recognition and artificial intelligence held at Hyannis, Massachusetts june 1-3, 1976 / edited by C. H. Chen
Autore Joint workshop on pattern recognition and artificial intelligence : <1976
Pubbl/distr/stampa New York [etc.] : Academic Press, 1976
Descrizione fisica 621 p. : ill. ; 24 cm
Disciplina 001.53'5
Soggetto non controllato Intelligenza artificiale - Congressi
Sistemi di riconoscimento delle forme - Congressi
ISBN 0-12-170950-7
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-990000482750403321
Joint workshop on pattern recognition and artificial intelligence : <1976  
New York [etc.] : Academic Press, 1976
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Signal processing handbook / edited by C. H. Chen
Signal processing handbook / edited by C. H. Chen
Pubbl/distr/stampa New York [etc.] : M. Dekker, c1988
Descrizione fisica XV, 818 p. : ill. ; 29 cm
Disciplina 621.38'043
Collana Electrical engineering and electronics
ISBN 0824779568
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-990008772260403321
New York [etc.] : M. Dekker, c1988
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui