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Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics / Umberto Celano editor
| Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics / Umberto Celano editor |
| Pubbl/distr/stampa | Cham, : Springer, 2019 |
| Descrizione fisica | XX, 408 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina |
621.36(Ingegneria ottica. Ottica applicata)
543.5(Spettroscopia ottica. Analisi spettroscopica) 530(Fisica) 502.82(Microscopia) 620.5(Nanotecnologia) 621.381(Elettronica. Microelettronica. Elettronica molecolare) |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN0126542 |
| Cham, : Springer, 2019 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli | ||
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Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics / Umberto Celano editor
| Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics / Umberto Celano editor |
| Pubbl/distr/stampa | Cham, : Springer, 2019 |
| Descrizione fisica | XX, 408 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina |
621.36(Ingegneria ottica. Ottica applicata)
543.5(Spettroscopia ottica. Analisi spettroscopica) 530(Fisica) 502.82(Microscopia) 620.5(Nanotecnologia) 621.381(Elettronica. Microelettronica. Elettronica molecolare) |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN00126542 |
| Cham, : Springer, 2019 | ||
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Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics / Umberto Celano editor
| Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics / Umberto Celano editor |
| Edizione | [Cham : Springer, 2019] |
| Pubbl/distr/stampa | XX, 408 p., : ill. ; 24 cm |
| Descrizione fisica | Pubblicazione in formato elettronico |
| Disciplina |
621.36(Ingegneria ottica. Ottica applicata)
543.5(Spettroscopia ottica. Analisi spettroscopica) 530(Fisica) 502.82(Microscopia) 620.5(Nanotecnologia) 621.381(Elettronica. Microelettronica. Elettronica molecolare) |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-SUN0126542 |
| XX, 408 p., : ill. ; 24 cm | ||
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Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices : Doctoral Thesis accepted by the KU Leuven and IMEC, Belgium / Umberto Celano
| Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices : Doctoral Thesis accepted by the KU Leuven and IMEC, Belgium / Umberto Celano |
| Autore | Celano, Umberto |
| Pubbl/distr/stampa | Cham, : Springer, 2016 |
| Descrizione fisica | xxiv, 175 p. : ill. ; 24 cm |
| Soggetto topico |
78-XX - Optics, electromagnetic theory [MSC 2020]
00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020] |
| Soggetto non controllato |
3D Metrology
AFM Tomography C-AFM Conductive Bridging Memory CBRAM Conductive Filaments Ionic Devices RRAM Resistive Switching Scalpel SPM |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Titolo uniforme | |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN0164428 |
Celano, Umberto
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| Cham, : Springer, 2016 | ||
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Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices : Doctoral Thesis accepted by the KU Leuven and IMEC, Belgium / Umberto Celano
| Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices : Doctoral Thesis accepted by the KU Leuven and IMEC, Belgium / Umberto Celano |
| Autore | Celano, Umberto |
| Pubbl/distr/stampa | Cham, : Springer, 2016 |
| Descrizione fisica | xxiv, 175 p. : ill. ; 24 cm |
| Soggetto topico |
00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020]
78-XX - Optics, electromagnetic theory [MSC 2020] |
| Soggetto non controllato |
3D Metrology
AFM Tomography C-AFM Conductive Bridging Memory CBRAM Conductive Filaments Ionic Devices RRAM Resistive Switching Scalpel SPM |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Titolo uniforme | |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN00164428 |
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Celano, Umberto
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| Cham, : Springer, 2016 | ||
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