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Industrial X-Ray Computed Tomography / Simone Carmignato, Wim Dewulf, Richard Leach editors
| Industrial X-Ray Computed Tomography / Simone Carmignato, Wim Dewulf, Richard Leach editors |
| Pubbl/distr/stampa | Cham, : Springer, 2018 |
| Descrizione fisica | VII, 369 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina |
621.36(Ingegneria ottica. Ottica applicata)
620.1(Scienze dei materiali) 523.019(Fisica molecolare, atomica, nucleare) 530.44(Fisica del plasma) |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN0124603 |
| Cham, : Springer, 2018 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli | ||
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Industrial X-Ray Computed Tomography / Simone Carmignato, Wim Dewulf, Richard Leach editors
| Industrial X-Ray Computed Tomography / Simone Carmignato, Wim Dewulf, Richard Leach editors |
| Pubbl/distr/stampa | Cham, : Springer, 2018 |
| Descrizione fisica | VII, 369 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina |
621.36(Ingegneria ottica. Ottica applicata)
620.1(Scienze dei materiali) 523.019(Fisica molecolare, atomica, nucleare) 530.44(Fisica del plasma) |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN00124603 |
| Cham, : Springer, 2018 | ||
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Industrial X-Ray Computed Tomography / Simone Carmignato, Wim Dewulf, Richard Leach editors
| Industrial X-Ray Computed Tomography / Simone Carmignato, Wim Dewulf, Richard Leach editors |
| Edizione | [Cham : Springer, 2018] |
| Pubbl/distr/stampa | VII, 369 p., : ill. ; 24 cm |
| Descrizione fisica | Pubblicazione in formato elettronico |
| Disciplina |
621.36(Ingegneria ottica. Ottica applicata)
620.1(Scienza dei materiali) 523.019(Fisica molecolare, atomica, nucleare) 530.44(Fisica del plasma) |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-SUN0124603 |
| VII, 369 p., : ill. ; 24 cm | ||
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