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Standard reference materials : preparation and certification of SRM-2530, ellipsometric parameters ? and ? and derived thickness and refractive index of a silicon dioxide layer on silicon / / G. A. Candela, D. Chandler-Horowitz, D. B. Novotny, B. J. Belzer,M. C. Croarkin
Standard reference materials : preparation and certification of SRM-2530, ellipsometric parameters ? and ? and derived thickness and refractive index of a silicon dioxide layer on silicon / / G. A. Candela, D. Chandler-Horowitz, D. B. Novotny, B. J. Belzer,M. C. Croarkin
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1988
Descrizione fisica 1 online resource
Altri autori (Persone) BelzerBenjamin Joseph
CandelaG. A (George A.)
Chandler-HorowitzDeane
CroarkinM. C
NovotnyD. B
Collana NIST special publication
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti Standard reference materials
Record Nr. UNINA-9910709560803321
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1988
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Standard reference materials and data for Raman spectroscopy, electron paramagnetic resonance, and magnetic moment measurements / / H. S. Bennett; G. A. Candela; T. Chang; R. E. Mundy; G. J. Rosasco
Standard reference materials and data for Raman spectroscopy, electron paramagnetic resonance, and magnetic moment measurements / / H. S. Bennett; G. A. Candela; T. Chang; R. E. Mundy; G. J. Rosasco
Autore Bennett H. S
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1975
Descrizione fisica 1 online resource
Altri autori (Persone) BennettH. S
CandelaG. A (George A.)
ChangTetse <1919->
MundyR. E
RosascoG. J
Collana NBSIR
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910710044003321
Bennett H. S  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1975
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui