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Probing Crystal Plasticity at the Nanoscales : Synchrotron X-ray Microdiffraction / Arief Suriadi Budiman
| Probing Crystal Plasticity at the Nanoscales : Synchrotron X-ray Microdiffraction / Arief Suriadi Budiman |
| Autore | Budiman, Arief S. |
| Pubbl/distr/stampa | Singapore, : Springer, 2015 |
| Descrizione fisica | IX, 118 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina |
548(Cristallografia)
543.54(Spettroscopia molecolare) 502.82(Microscopia) 620.5(Nanotecnologia) 621.39(Microingegneria) 620.1(Scienze dei materiali) |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN0242914 |
Budiman, Arief S.
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| Singapore, : Springer, 2015 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli | ||
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Probing Crystal Plasticity at the Nanoscales : Synchrotron X-ray Microdiffraction / Arief Suriadi Budiman
| Probing Crystal Plasticity at the Nanoscales : Synchrotron X-ray Microdiffraction / Arief Suriadi Budiman |
| Autore | Budiman, Arief S. |
| Pubbl/distr/stampa | Singapore, : Springer, 2015 |
| Descrizione fisica | IX, 118 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina |
548(Cristallografia)
543.54(Spettroscopia molecolare) 502.82(Microscopia) 620.5(Nanotecnologia) 621.39(Microingegneria) 620.1(Scienze dei materiali) |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN00242914 |
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Budiman, Arief S.
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| Singapore, : Springer, 2015 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli | ||
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