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Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials / Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin C. Schubert
| Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials / Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin C. Schubert |
| Autore | Breitenstein, Otwin |
| Edizione | [3. ed] |
| Pubbl/distr/stampa | Cham, : Springer, 2018 |
| Descrizione fisica | xxi, 321 p. : ill. ; 24 cm |
| Altri autori (Persone) |
Schubert, Martin C.
Warta, Wilhelm |
| Soggetto topico |
00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020]
78A60 - Lasers, masers, optical bistability, nonlinear optics [MSC 2020] |
| Soggetto non controllato |
Electronic Device Failure Analysis
IC Failure Analysis Illuminated LIT applied to solar cells LIT application to spin caloritronics problems Non-thermal LIT lifetime mapping Power devices for electric cars Shunt Imaging Solar Cell Characterization Trap Density Mapping |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Titolo uniforme | |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN0211395 |
Breitenstein, Otwin
|
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| Cham, : Springer, 2018 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli | ||
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Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials / Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin C. Schubert
| Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials / Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin C. Schubert |
| Autore | Breitenstein, Otwin |
| Edizione | [3. ed] |
| Pubbl/distr/stampa | Cham, : Springer, 2018 |
| Descrizione fisica | xxi, 321 p. : ill. ; 24 cm |
| Altri autori (Persone) |
Schubert, Martin C.
Warta, Wilhelm |
| Soggetto topico |
00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020]
78A60 - Lasers, masers, optical bistability, nonlinear optics [MSC 2020] |
| Soggetto non controllato |
Electronic Device Failure Analysis
IC Failure Analysis Illuminated LIT applied to solar cells LIT application to spin caloritronics problems Non-thermal LIT lifetime mapping Power devices for electric cars Shunt Imaging Solar Cell Characterization Trap Density Mapping |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Titolo uniforme | |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN00211395 |
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Breitenstein, Otwin
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| Cham, : Springer, 2018 | ||
| Materiale a stampa | ||
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