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Derived PIV application and data model test guidelines / / David Cooper; Hildegard Ferraiolo; Ramaswamy Chandramouli; Nabil Ghadiali; Jason Mohler; Steven Brady
Derived PIV application and data model test guidelines / / David Cooper; Hildegard Ferraiolo; Ramaswamy Chandramouli; Nabil Ghadiali; Jason Mohler; Steven Brady
Autore Cooper David
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2016
Descrizione fisica 1 online resource (143 pages) : illustrations (color)
Altri autori (Persone) BradySteven
ChandramouliRamaswamy
CooperDavid
FerraioloHildegard
GhadialiNabil
MohlerJason
Collana NIST special publication
Soggetto topico Authentication
Identification cards
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910711167103321
Cooper David  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2016
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Representation of PIV chain-of-trust for import and export / / Hildegard Ferraiolo; Ramaswamy Chandramouli; Ketan Mehta; Jason Mohler; Stephen Skordinski; Steven Brady
Representation of PIV chain-of-trust for import and export / / Hildegard Ferraiolo; Ramaswamy Chandramouli; Ketan Mehta; Jason Mohler; Stephen Skordinski; Steven Brady
Autore Ferraiolo Hildegard
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2016
Descrizione fisica 1 online resource (48 pages) : illustrations (color)
Altri autori (Persone) BradySteven
ChandramouliRamaswamy
FerraioloHildegard
MehtaKetan
MohlerJason
SkordinskiStephen
Collana NIST special publication
Soggetto topico Identification
XML (Document markup language)
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910711167203321
Ferraiolo Hildegard  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2016
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui