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Dielectric Breakdown in Gigascale Electronics : Time Dependent Failure Mechanisms / Juan Pablo Borja, Toh-Ming Lu, Joel Plawsky
| Dielectric Breakdown in Gigascale Electronics : Time Dependent Failure Mechanisms / Juan Pablo Borja, Toh-Ming Lu, Joel Plawsky |
| Autore | Borja, Juan Pablo |
| Pubbl/distr/stampa | Cham, : Springer, 2016 |
| Descrizione fisica | VIII, 105 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina |
620.5(Nanotecnologia)
621.39(Microingegneria) 620.1(Scienze dei materiali) 621.319(Circuiti) |
| Altri autori (Persone) |
Lu, Toh-Min
Plawsky, Joel |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN0243349 |
Borja, Juan Pablo
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| Cham, : Springer, 2016 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli | ||
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Dielectric Breakdown in Gigascale Electronics : Time Dependent Failure Mechanisms / Juan Pablo Borja, Toh-Ming Lu, Joel Plawsky
| Dielectric Breakdown in Gigascale Electronics : Time Dependent Failure Mechanisms / Juan Pablo Borja, Toh-Ming Lu, Joel Plawsky |
| Autore | Borja, Juan Pablo |
| Pubbl/distr/stampa | Cham, : Springer, 2016 |
| Descrizione fisica | VIII, 105 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina |
620.5(Nanotecnologia)
621.39(Microingegneria) 620.1(Scienze dei materiali) 621.319(Circuiti) |
| Altri autori (Persone) |
Lu, Toh-Min
Plawsky, Joel |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN00243349 |
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Borja, Juan Pablo
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| Cham, : Springer, 2016 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli | ||
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