2: Metodi di analisi / Elio Giangreco ; P. Bisegna ... \et al.! |
Autore | Giangreco, Elio |
Pubbl/distr/stampa | Torino, : UTET, \2002! |
Descrizione fisica | XVI, 713 p. : ill. ; 24 cm. |
Disciplina | 624.17 |
Soggetto topico | Strutture - Analisi |
ISBN | 8802059438 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | ita |
Record Nr. | UNICAS-UFI0386784 |
Giangreco, Elio | ||
Torino, : UTET, \2002! | ||
Materiale a stampa | ||
Lo trovi qui: Univ. di Cassino e del Lazio Meridionale | ||
|
Ingegneria delle strutture / Elio Giangreco |
Autore | Giangreco, Elio |
Pubbl/distr/stampa | Torino : UTET |
Descrizione fisica | 3 v. : ill. ; 24 cm. |
Disciplina | 624.17 |
Soggetto topico | Strutture - Progettazione |
ISBN |
88-02-05892-X
88-02-05943-8 88-02-05944-6 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | ita |
Nota di contenuto | Vol. 1.: Basi della progettazione / Elio Giangreco ; A. Cappellieri...[et al.]. - c2002. - XVII, 366 p Vol. 2.: Metodi di analisi / Elio Giangreco ; P. Bisegna...[et al.]. - c2002. - XVI, 713 p Vol. 3.: Progettazione strutturale / Elio Giangreco ; M. Arduini...[et al.]. - c2002. - XVI, 700 p |
Record Nr. | UNIBAS-000017574 |
Giangreco, Elio | ||
Torino : UTET | ||
Materiale a stampa | ||
Lo trovi qui: Univ. della Basilicata | ||
|
Piezo-Active Composites : Microgeometry–Sensitivity Relations / Vitaly Yu Topolov, Christopher R. Bowen, Paolo Bisegna |
Autore | Topolov, Vitaly Y. |
Pubbl/distr/stampa | Cham, : Springer, 2018 |
Descrizione fisica | XVII, 179 p. : ill. ; 24 cm |
Disciplina |
621.36(Ingegneria ottica. Ottica applicata)
620.1(Scienze dei materiali) 620.14(Ceramica e materiali affini) 541.377(Semiconduttori) 537.5344(Microonde e onde a frequenza ultraalta) |
Altri autori (Persone) |
Bisegna, Paolo
Bowen, Christopher R. |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN0125623 |
Topolov, Vitaly Y. | ||
Cham, : Springer, 2018 | ||
Materiale a stampa | ||
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli | ||
|
Piezo-Active Composites : Microgeometry–Sensitivity Relations / Vitaly Yu Topolov, Christopher R. Bowen, Paolo Bisegna |
Autore | Topolov, Vitaly Y. |
Pubbl/distr/stampa | Cham, : Springer, 2018 |
Descrizione fisica | XVII, 179 p. : ill. ; 24 cm |
Disciplina |
621.36(Ingegneria ottica. Ottica applicata)
620.1(Scienze dei materiali) 620.14(Ceramica e materiali affini) 541.377(Semiconduttori) 537.5344(Microonde e onde a frequenza ultraalta) |
Altri autori (Persone) |
Bisegna, Paolo
Bowen, Christopher R. |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN00125623 |
Topolov, Vitaly Y. | ||
Cham, : Springer, 2018 | ||
Materiale a stampa | ||
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli | ||
|
Piezo-Active Composites : Microgeometry–Sensitivity Relations / Vitaly Yu Topolov, Christopher R. Bowen, Paolo Bisegna |
Autore | Topolov, Vitaly Y. |
Edizione | [Cham : Springer, 2018] |
Pubbl/distr/stampa | XVII, 179 p., : ill. ; 24 cm |
Descrizione fisica | Pubblicazione in formato elettronico |
Disciplina |
621.36(Ingegneria ottica. Ottica applicata)
620.1(Scienza dei materiali) 620.14(Ceramica e materiali affini) 541.377(Semiconduttori) 537.5344(Microonde e onde a frequenza ultraalta) |
Altri autori (Persone) |
Bowen, Christopher R.
Bisegna, Paolo |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNICAMPANIA-SUN0125623 |
Topolov, Vitaly Y. | ||
XVII, 179 p., : ill. ; 24 cm | ||
Materiale a stampa | ||
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli | ||
|