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2: Metodi di analisi / Elio Giangreco ; P. Bisegna ... \et al.!
2: Metodi di analisi / Elio Giangreco ; P. Bisegna ... \et al.!
Autore Giangreco, Elio
Pubbl/distr/stampa Torino, : UTET, \2002!
Descrizione fisica XVI, 713 p. : ill. ; 24 cm.
Disciplina 624.17
Soggetto topico Strutture - Analisi
ISBN 8802059438
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione ita
Record Nr. UNICAS-UFI0386784
Giangreco, Elio  
Torino, : UTET, \2002!
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Cassino e del Lazio Meridionale
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Ingegneria delle strutture / Elio Giangreco
Ingegneria delle strutture / Elio Giangreco
Autore Giangreco, Elio
Pubbl/distr/stampa Torino : UTET
Descrizione fisica 3 v. : ill. ; 24 cm.
Disciplina 624.17
Soggetto topico Strutture - Progettazione
ISBN 88-02-05892-X
88-02-05943-8
88-02-05944-6
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione ita
Nota di contenuto Vol. 1.: Basi della progettazione / Elio Giangreco ; A. Cappellieri...[et al.]. - c2002. - XVII, 366 p Vol. 2.: Metodi di analisi / Elio Giangreco ; P. Bisegna...[et al.]. - c2002. - XVI, 713 p Vol. 3.: Progettazione strutturale / Elio Giangreco ; M. Arduini...[et al.]. - c2002. - XVI, 700 p
Record Nr. UNIBAS-000017574
Giangreco, Elio  
Torino : UTET
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. della Basilicata
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Piezo-Active Composites : Microgeometry–Sensitivity Relations / Vitaly Yu Topolov, Christopher R. Bowen, Paolo Bisegna
Piezo-Active Composites : Microgeometry–Sensitivity Relations / Vitaly Yu Topolov, Christopher R. Bowen, Paolo Bisegna
Autore Topolov, Vitaly Y.
Pubbl/distr/stampa Cham, : Springer, 2018
Descrizione fisica XVII, 179 p. : ill. ; 24 cm
Disciplina 621.36(Ingegneria ottica. Ottica applicata)
620.1(Scienze dei materiali)
620.14(Ceramica e materiali affini)
541.377(Semiconduttori)
537.5344(Microonde e onde a frequenza ultraalta)
Altri autori (Persone) Bisegna, Paolo
Bowen, Christopher R.
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN0125623
Topolov, Vitaly Y.  
Cham, : Springer, 2018
Materiale a stampa
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Piezo-Active Composites : Microgeometry–Sensitivity Relations / Vitaly Yu Topolov, Christopher R. Bowen, Paolo Bisegna
Piezo-Active Composites : Microgeometry–Sensitivity Relations / Vitaly Yu Topolov, Christopher R. Bowen, Paolo Bisegna
Autore Topolov, Vitaly Y.
Pubbl/distr/stampa Cham, : Springer, 2018
Descrizione fisica XVII, 179 p. : ill. ; 24 cm
Disciplina 621.36(Ingegneria ottica. Ottica applicata)
620.1(Scienze dei materiali)
620.14(Ceramica e materiali affini)
541.377(Semiconduttori)
537.5344(Microonde e onde a frequenza ultraalta)
Altri autori (Persone) Bisegna, Paolo
Bowen, Christopher R.
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN00125623
Topolov, Vitaly Y.  
Cham, : Springer, 2018
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
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Piezo-Active Composites : Microgeometry–Sensitivity Relations / Vitaly Yu Topolov, Christopher R. Bowen, Paolo Bisegna
Piezo-Active Composites : Microgeometry–Sensitivity Relations / Vitaly Yu Topolov, Christopher R. Bowen, Paolo Bisegna
Autore Topolov, Vitaly Y.
Edizione [Cham : Springer, 2018]
Pubbl/distr/stampa XVII, 179 p., : ill. ; 24 cm
Descrizione fisica Pubblicazione in formato elettronico
Disciplina 621.36(Ingegneria ottica. Ottica applicata)
620.1(Scienza dei materiali)
620.14(Ceramica e materiali affini)
541.377(Semiconduttori)
537.5344(Microonde e onde a frequenza ultraalta)
Altri autori (Persone) Bowen, Christopher R.
Bisegna, Paolo
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAMPANIA-SUN0125623
Topolov, Vitaly Y.  
XVII, 179 p., : ill. ; 24 cm
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
Opac: Controlla la disponibilità qui