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Handbook of Metrology and Applications / Dinesh K. Aswal ... [et al.] editors
Handbook of Metrology and Applications / Dinesh K. Aswal ... [et al.] editors
Pubbl/distr/stampa Singapore, : Springer, 2023
Descrizione fisica XLII, 2486 ; 24 cm
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN0276259
Singapore, : Springer, 2023
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Handbook of Metrology and Applications / Dinesh K. Aswal ... [et al.] editors
Handbook of Metrology and Applications / Dinesh K. Aswal ... [et al.] editors
Pubbl/distr/stampa Singapore, : Springer, 2023
Descrizione fisica XLII, 2486 ; 24 cm
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Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN00276259
Singapore, : Springer, 2023
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Metrology for Inclusive Growth of India / Dinesh K. Aswal editor
Metrology for Inclusive Growth of India / Dinesh K. Aswal editor
Pubbl/distr/stampa Singapore, : Springer, 2020
Descrizione fisica xxi, 1076 p. : ill. ; 24 cm
Soggetto topico 81-XX - Quantum theory [MSC 2020]
00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020]
Soggetto non controllato Bhartiya Nirdeshak Dravya
Biomedical Metrology
Electrical and electronic metrology
Materials Metrology
Physico-mechanical metrology
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Titolo uniforme
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN0233881
Singapore, : Springer, 2020
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Metrology for Inclusive Growth of India / Dinesh K. Aswal editor
Metrology for Inclusive Growth of India / Dinesh K. Aswal editor
Pubbl/distr/stampa Singapore, : Springer, 2020
Descrizione fisica xxi, 1076 p. : ill. ; 24 cm
Soggetto topico 00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020]
81-XX - Quantum theory [MSC 2020]
Soggetto non controllato Bhartiya Nirdeshak Dravya
Biomedical Metrology
Electrical and electronic metrology
Materials Metrology
Physico-mechanical metrology
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Titolo uniforme
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN00233881
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Recent Advances in Thin Films / editors Sushil Kumar, D. K. Aswal
Recent Advances in Thin Films / editors Sushil Kumar, D. K. Aswal
Pubbl/distr/stampa Singapore, : Springer, 2020
Descrizione fisica X, 721 p. : ill. ; 24 cm
Disciplina 620.5(Nanotecnologia)
620.1(Scienze dei materiali)
621.89(Tribologia)
530.4175(Film sottili)
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN0244359
Singapore, : Springer, 2020
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Recent Advances in Thin Films / editors Sushil Kumar, D. K. Aswal
Recent Advances in Thin Films / editors Sushil Kumar, D. K. Aswal
Pubbl/distr/stampa Singapore, : Springer, 2020
Descrizione fisica X, 721 p. : ill. ; 24 cm
Disciplina 620.5(Nanotecnologia)
620.1(Scienze dei materiali)
621.89(Tribologia)
530.4175(Film sottili)
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Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN00244359
Singapore, : Springer, 2020
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