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Modeling minority-carrier lifetime techniques that use transient excess-carrier decay [[electronic resource] /] / Steven W. Johnston, Gregory M. Berman, and Richard K. Ahrenkiel
Modeling minority-carrier lifetime techniques that use transient excess-carrier decay [[electronic resource] /] / Steven W. Johnston, Gregory M. Berman, and Richard K. Ahrenkiel
Autore Johnston Steven W
Pubbl/distr/stampa Golden, Colo., : National Renewable Energy Laboratory, 2008
Descrizione fisica 1 online resource (1 unnumbered page) : color illustrations
Altri autori (Persone) BermanGregory M
AhrenkielRichard K
Collana NREL/PO
Soggetto topico Photovoltaic cells - Research
Solar cells - Research
Excess carriers (Solid state physics)
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti Modeling Minority-Carrier Lifetime Techniques that Use Transient Excess-Carrier Decay
Record Nr. UNINA-9910698699403321
Johnston Steven W  
Golden, Colo., : National Renewable Energy Laboratory, 2008
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Relationship of recombination lifetime and dark current in silicon p-n junctions [[electronic resource] /] / R.K. Ahrenkiel ... [and others]
Relationship of recombination lifetime and dark current in silicon p-n junctions [[electronic resource] /] / R.K. Ahrenkiel ... [and others]
Pubbl/distr/stampa Golden, Colo. : , : National Renewable Energy Laboratory, , [2005]
Descrizione fisica 1 volume : digital, PDF file
Altri autori (Persone) AhrenkielRichard K
Collana NREL/CP
Soggetto topico Photovoltaic cells - Testing
Silicon solar cells - Testing
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910698106803321
Golden, Colo. : , : National Renewable Energy Laboratory, , [2005]
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui