Info
- Utilizzare la checkbox di selezione a fianco di ciascun documento per attivare le funzionalità di stampa, invio email, download nei formati disponibili del (i) record.
VTS : 2019 IEEE 37th VLSI Test Symposium : 23-25 April 2019, Monterey, CA, USA / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| VTS : 2019 IEEE 37th VLSI Test Symposium : 23-25 April 2019, Monterey, CA, USA / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2019 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (601 pages) |
| Disciplina | 621.395 |
| Soggetto topico | Integrated circuits - Very large scale integration - Testing |
| ISBN | 1-7281-1170-6 |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910330757403321 |
| Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2019 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
| ||
VTS : 2019 IEEE 37th VLSI Test Symposium : 23-25 April 2019, Monterey, CA, USA / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| VTS : 2019 IEEE 37th VLSI Test Symposium : 23-25 April 2019, Monterey, CA, USA / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2019 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (601 pages) |
| Disciplina | 621.395 |
| Soggetto topico | Integrated circuits - Very large scale integration - Testing |
| ISBN | 1-7281-1170-6 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-996581164703316 |
| Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2019 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. di Salerno | ||
| ||
VTS : 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium : 13-17 April 2014
| VTS : 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium : 13-17 April 2014 |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2014 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (260 pages) |
| Soggetto topico | Integrated circuits - Very large scale integration - Testing |
| ISBN | 1-4799-2611-6 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-996281111003316 |
| New York : , : IEEE, , 2014 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. di Salerno | ||
| ||
VTS : 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium : 13-17 April 2014
| VTS : 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium : 13-17 April 2014 |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2014 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (260 pages) |
| Soggetto topico | Integrated circuits - Very large scale integration - Testing |
| ISBN | 1-4799-2611-6 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910132481003321 |
| New York : , : IEEE, , 2014 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
| ||
VTS 2008 : proceedings : 26th IEEE VLSI Test Symposium : San Diego, California, 27 April - 1 May 2008
| VTS 2008 : proceedings : 26th IEEE VLSI Test Symposium : San Diego, California, 27 April - 1 May 2008 |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2008 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (xxx, 413 pages) |
| Soggetto topico | Integrated circuits - Very large scale integration - Testing |
| ISBN | 1-5090-8176-3 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-996216631503316 |
| New York : , : IEEE, , 2008 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. di Salerno | ||
| ||
VTS 2008 : proceedings : 26th IEEE VLSI Test Symposium : San Diego, California, 27 April - 1 May 2008
| VTS 2008 : proceedings : 26th IEEE VLSI Test Symposium : San Diego, California, 27 April - 1 May 2008 |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2008 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (xxx, 413 pages) |
| Soggetto topico | Integrated circuits - Very large scale integration - Testing |
| ISBN | 1-5090-8176-3 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910145676203321 |
| New York : , : IEEE, , 2008 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
| ||
VTS 2018 : 2018 IEEE 36th VLSI Test Symposium : proceedings : April 22nd - 25th 2018, San Francisco, California (USA) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| VTS 2018 : 2018 IEEE 36th VLSI Test Symposium : proceedings : April 22nd - 25th 2018, San Francisco, California (USA) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2018 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (619 pages) |
| Disciplina | 621.395 |
| Soggetto topico | Integrated circuits - Very large scale integration - Testing |
| ISBN | 1-5386-3774-X |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-996280696203316 |
| Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2018 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. di Salerno | ||
| ||
VTS 2018 : 2018 IEEE 36th VLSI Test Symposium : proceedings : April 22nd - 25th 2018, San Francisco, California (USA) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| VTS 2018 : 2018 IEEE 36th VLSI Test Symposium : proceedings : April 22nd - 25th 2018, San Francisco, California (USA) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2018 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (619 pages) |
| Disciplina | 621.395 |
| Soggetto topico | Integrated circuits - Very large scale integration - Testing |
| ISBN | 1-5386-3774-X |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910280921403321 |
| Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2018 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
| ||
