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ATS 2009 : proceedings : 2009 Asian Test Symposium : 23-26 November 2009, Taichung, Taiwan
ATS 2009 : proceedings : 2009 Asian Test Symposium : 23-26 November 2009, Taichung, Taiwan
Pubbl/distr/stampa New York : , : IEEE, , 2009
Descrizione fisica 1 online resource (xxv, 465 pages)
Soggetto topico Electronic circuits - Testing
Electronic digital computers - Circuits - Testing
Fault-tolerant computing
ISBN 1-5090-7541-0
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-996206597303316
New York : , : IEEE, , 2009
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui
ATS 2009 : proceedings : 2009 Asian Test Symposium : 23-26 November 2009, Taichung, Taiwan
ATS 2009 : proceedings : 2009 Asian Test Symposium : 23-26 November 2009, Taichung, Taiwan
Pubbl/distr/stampa New York : , : IEEE, , 2009
Descrizione fisica 1 online resource (xxv, 465 pages)
Soggetto topico Electronic circuits - Testing
Electronic digital computers - Circuits - Testing
Fault-tolerant computing
ISBN 1-5090-7541-0
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910138937003321
New York : , : IEEE, , 2009
Materiale a stampa
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ITC : International Test Conference 2001 : proceedings : October 30-November 1, 2001, Baltimore, MD, USA
ITC : International Test Conference 2001 : proceedings : October 30-November 1, 2001, Baltimore, MD, USA
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : International Test Conference, 2001
Disciplina 621.3815/48
Soggetto topico Integrated circuits - Testing
Electronic digital computers - Circuits - Testing
Telecommunication
Radio frequency
Electrical Engineering
Electrical & Computer Engineering
Engineering & Applied Sciences
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-996217698303316
[Place of publication not identified], : International Test Conference, 2001
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ITC : International Test Conference 2001 : proceedings : October 30-November 1, 2001, Baltimore, MD, USA
ITC : International Test Conference 2001 : proceedings : October 30-November 1, 2001, Baltimore, MD, USA
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : International Test Conference, 2001
Disciplina 621.3815/48
Soggetto topico Integrated circuits - Testing
Electronic digital computers - Circuits - Testing
Telecommunication
Radio frequency
Electrical Engineering
Electrical & Computer Engineering
Engineering & Applied Sciences
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910872966803321
[Place of publication not identified], : International Test Conference, 2001
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ITC-Asia : 2017 International Test Conference in Asia : 13-15 September 2017
ITC-Asia : 2017 International Test Conference in Asia : 13-15 September 2017
Pubbl/distr/stampa New York : , : IEEE, , 2017
Descrizione fisica 1 online resource (145 pages)
Soggetto topico Integrated circuits - Testing
Electronic systems - Testing
Electronic digital computers - Circuits - Testing
ISBN 1-5386-3051-6
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910228955303321
New York : , : IEEE, , 2017
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ITC-Asia : 2017 International Test Conference in Asia : 13-15 September 2017
ITC-Asia : 2017 International Test Conference in Asia : 13-15 September 2017
Pubbl/distr/stampa New York : , : IEEE, , 2017
Descrizione fisica 1 online resource (145 pages)
Soggetto topico Integrated circuits - Testing
Electronic systems - Testing
Electronic digital computers - Circuits - Testing
ISBN 1-5386-3051-6
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-996279679503316
New York : , : IEEE, , 2017
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Proceedings / / European Test Workshop
Proceedings / / European Test Workshop
Pubbl/distr/stampa Los Alamitos, Calif., : IEEE Computer Society
Disciplina 621
Soggetto topico Integrated circuits - Testing
Automatic test equipment
Electronic digital computers - Circuits - Testing
Soggetto genere / forma Periodicals.
Conference papers and proceedings.
ISSN 1558-1780
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Periodico
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti IEEE European Test Workshop
ETW
Record Nr. UNINA-9910626169603321
Los Alamitos, Calif., : IEEE Computer Society
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Proceedings / / European Test Workshop
Proceedings / / European Test Workshop
Pubbl/distr/stampa Los Alamitos, Calif., : IEEE Computer Society
Disciplina 621
Soggetto topico Integrated circuits - Testing
Automatic test equipment
Electronic digital computers - Circuits - Testing
Soggetto genere / forma Periodicals.
Conference papers and proceedings.
ISSN 1558-1780
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Periodico
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti IEEE European Test Workshop
ETW
Record Nr. UNISA-996280994103316
Los Alamitos, Calif., : IEEE Computer Society
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Proceedings
Proceedings
Pubbl/distr/stampa Los Alamitos, Calif. : , : IEEE Computer Society Press, , ©1992-
Disciplina 621
Soggetto topico Electronic circuits - Testing
Electronic digital computers - Circuits - Testing
Fault-tolerant computing
Soggetto genere / forma Periodicals.
Conference papers and proceedings.
ISSN 2377-5386
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Periodico
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti ATS ... proceedings
Proceedings of the ... Asian Test Symposium
Record Nr. UNISA-996581529303316
Los Alamitos, Calif. : , : IEEE Computer Society Press, , ©1992-
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Proceedings
Proceedings
Pubbl/distr/stampa Los Alamitos, Calif. : , : IEEE Computer Society Press, , ©1992-
Disciplina 621
Soggetto topico Electronic circuits - Testing
Electronic digital computers - Circuits - Testing
Fault-tolerant computing
Soggetto genere / forma Periodicals.
Conference papers and proceedings.
ISSN 2377-5386
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Periodico
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti ATS ... proceedings
Proceedings of the ... Asian Test Symposium
Record Nr. UNINA-9910626166503321
Los Alamitos, Calif. : , : IEEE Computer Society Press, , ©1992-
Materiale a stampa
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