IEC 61671-2 Edition 1.0 2016-04 : IEC/IEEE International Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Instrument Description / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2016 |
Descrizione fisica | 1 online resource (56 pages) |
Disciplina | 681.2 |
Soggetto topico |
Detectors
Measuring instruments |
ISBN | 1-5044-0862-4 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti |
61671-2-2016 - IEC/IEEE International Standard for Automatic Test Markup Language
IEC 61671-2 Edition 1.0 2016-04 |
Record Nr. | UNISA-996279890303316 |
[Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2016 | ||
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IEC 61671-4 Edition 1.0 2016-04 : IEC/IEEE International Standard - Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Configuration / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2016 |
Descrizione fisica | 1 online resource (60 pages) |
Disciplina | 681.2 |
Soggetto topico |
Detectors
Measuring instruments |
ISBN | 1-5044-0864-0 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti |
61671-4-2016 - IEC/IEEE International Standard - Standard for Automatic Test Markup Language
IEC 61671-4 Edition 1.0 2016-04 |
Record Nr. | UNINA-9910136921503321 |
[Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2016 | ||
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IEC 61671-4 Edition 1.0 2016-04 : IEC/IEEE International Standard - Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Configuration / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2016 |
Descrizione fisica | 1 online resource (60 pages) |
Disciplina | 681.2 |
Soggetto topico |
Detectors
Measuring instruments |
ISBN | 1-5044-0864-0 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti |
61671-4-2016 - IEC/IEEE International Standard - Standard for Automatic Test Markup Language
IEC 61671-4 Edition 1.0 2016-04 |
Record Nr. | UNISA-996279890103316 |
[Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2016 | ||
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IEC 61671-5 Edition 1.0 2016-04 : IEC/IEEE International Standard - Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2016 |
Descrizione fisica | 1 online resource (32 pages) |
Disciplina | 681.2 |
Soggetto topico |
Detectors
Measuring instruments |
ISBN | 1-5044-0866-7 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti |
61671-5-2016 - IEC/IEEE International Standard - Automatic Test Markup Language
IEC 61671-5 Edition 1.0 2016-04: IEC/IEEE International Standard - Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description IEC 61671-5 Edition 1.0 2016-04 |
Record Nr. | UNISA-996279889703316 |
[Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2016 | ||
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IEC 61671-5 Edition 1.0 2016-04 : IEC/IEEE International Standard - Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2016 |
Descrizione fisica | 1 online resource (32 pages) |
Disciplina | 681.2 |
Soggetto topico |
Detectors
Measuring instruments |
ISBN | 1-5044-0866-7 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti |
61671-5-2016 - IEC/IEEE International Standard - Automatic Test Markup Language
IEC 61671-5 Edition 1.0 2016-04: IEC/IEEE International Standard - Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description IEC 61671-5 Edition 1.0 2016-04 |
Record Nr. | UNINA-9910136946203321 |
[Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2016 | ||
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IEC 61671-6 Edition 1.0 2016-04 : IEC/IEEE International Standard - Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Station Description / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2016 |
Descrizione fisica | 1 online resource (38 pages) |
Disciplina | 681.2 |
Soggetto topico |
Detectors
Measuring instruments |
ISBN | 1-5044-0868-3 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti |
61671-6-2016 - IEC/IEEE International Standard - Standard for Automatic Test Markup Language
IEC 61671-6 Edition 1.0 2016-04 |
Record Nr. | UNINA-9910136945803321 |
[Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2016 | ||
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Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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IEC 61671-6 Edition 1.0 2016-04 : IEC/IEEE International Standard - Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Station Description / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2016 |
Descrizione fisica | 1 online resource (38 pages) |
Disciplina | 681.2 |
Soggetto topico |
Detectors
Measuring instruments |
ISBN | 1-5044-0868-3 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti |
61671-6-2016 - IEC/IEEE International Standard - Standard for Automatic Test Markup Language
IEC 61671-6 Edition 1.0 2016-04 |
Record Nr. | UNISA-996279890203316 |
[Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2016 | ||
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IEEE Inertial Sensors 2017 : the 4th IEEE International Symposium on Inertial Sensors & Systems : Kauai, Hawaii, USA, March 27-30 |
Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2017 |
Descrizione fisica | 1 online resource (101 pages) |
Soggetto topico |
Inertial navigation systems
Detectors Microelectromechanical systems |
ISBN | 1-5090-3234-7 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISA-996280478903316 |
New York : , : IEEE, , 2017 | ||
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IEEE Inertial Sensors 2017 : the 4th IEEE International Symposium on Inertial Sensors & Systems : Kauai, Hawaii, USA, March 27-30 |
Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2017 |
Descrizione fisica | 1 online resource (101 pages) |
Soggetto topico |
Inertial navigation systems
Detectors Microelectromechanical systems |
ISBN | 1-5090-3234-7 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNINA-9910209342603321 |
New York : , : IEEE, , 2017 | ||
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IEEE Sensors 2006 : 22-25 October 2006, Daegu, South Korea / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2006 |
Descrizione fisica | 1 online resource (1011 pages) |
Disciplina | 681.2 |
Soggetto topico |
Detectors
Biosensors |
ISBN | 1-5090-9237-4 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNINA-9910142673003321 |
Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2006 | ||
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