IEEE Std 1641-2004 : IEEE Standard for Signal and Test Definition / / IEEE |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2005 |
Descrizione fisica | 1 online resource |
Disciplina | 004 |
Soggetto topico |
Information technology
Automatic test equipment |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti | IEEE Std 1641-2004 |
Record Nr. | UNISA-996278286403316 |
[Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2005 | ||
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IEEE Std 1641-2010 (Revision of IEEE Std 1641-2004) : IEEE Standard for Signal and Test Definition / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2010 |
Descrizione fisica | 1 online resource (ix, 324 pages) : illustrations |
Disciplina | 005.133 |
Soggetto topico |
ATLAS (Computer program language)
Automatic test equipment |
ISBN | 0-7381-6361-9 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti | IEEE Std 1641-2010 |
Record Nr. | UNINA-9910135878903321 |
New York : , : IEEE, , 2010 | ||
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IEEE Std 1641-2010 (Revision of IEEE Std 1641-2004) : IEEE Standard for Signal and Test Definition / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2010 |
Descrizione fisica | 1 online resource (ix, 324 pages) : illustrations |
Disciplina | 005.133 |
Soggetto topico |
ATLAS (Computer program language)
Automatic test equipment |
ISBN | 0-7381-6361-9 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti | IEEE Std 1641-2010 |
Record Nr. | UNISA-996278288603316 |
New York : , : IEEE, , 2010 | ||
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IEEE Std 1641.1-2006 : IEEE Guide for the Use of IEEE Std 1641, Standard for Signal and Test Definition / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2007 |
Descrizione fisica | 1 online resource (207 pages) |
Disciplina | 621.381548 |
Soggetto topico |
Automatic test equipment
Patents |
ISBN | 0-7381-6266-3 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti | IEEE Std 1641.1-2006 |
Record Nr. | UNINA-9910135878503321 |
New York : , : IEEE, , 2007 | ||
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IEEE Std 1641.1-2006 : IEEE Guide for the Use of IEEE Std 1641, Standard for Signal and Test Definition / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2007 |
Descrizione fisica | 1 online resource (207 pages) |
Disciplina | 621.381548 |
Soggetto topico |
Automatic test equipment
Patents |
ISBN | 0-7381-6266-3 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti | IEEE Std 1641.1-2006 |
Record Nr. | UNISA-996278289103316 |
New York : , : IEEE, , 2007 | ||
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IEEE Std 1671-2006 : IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2006 |
Descrizione fisica | 1 online resource (89 pages) |
Disciplina | 621.381548 |
Soggetto topico | Automatic test equipment |
ISBN | 0-7381-5246-3 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti |
1671-2006 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
1671-2006 - IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language IEEE Std 1671-2006 |
Record Nr. | UNINA-9910135877003321 |
New York : , : IEEE, , 2006 | ||
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IEEE Std 1671-2006 : IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2006 |
Descrizione fisica | 1 online resource (89 pages) |
Disciplina | 621.381548 |
Soggetto topico | Automatic test equipment |
ISBN | 0-7381-5246-3 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti |
1671-2006 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
1671-2006 - IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language IEEE Std 1671-2006 |
Record Nr. | UNISA-996278286103316 |
New York : , : IEEE, , 2006 | ||
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IEEE Std 1671-2010 (Revision of IEEE Std 1671-2006) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2011 |
Descrizione fisica | 1 online resource (viii, 378 pages) : illustrations |
Disciplina | 621.381548 |
Soggetto topico | Automatic test equipment |
ISBN | 0-7381-6456-9 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti |
1671-2010 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671-2010 (Revision of IEEE Std 1671-2006): IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML IEEE Std 1671-2010 |
Record Nr. | UNINA-9910135876803321 |
New York : , : IEEE, , 2011 | ||
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IEEE Std 1671-2010 (Revision of IEEE Std 1671-2006) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2011 |
Descrizione fisica | 1 online resource (viii, 378 pages) : illustrations |
Disciplina | 621.381548 |
Soggetto topico | Automatic test equipment |
ISBN | 0-7381-6456-9 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti |
1671-2010 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671-2010 (Revision of IEEE Std 1671-2006): IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML IEEE Std 1671-2010 |
Record Nr. | UNISA-996278287103316 |
New York : , : IEEE, , 2011 | ||
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IEEE Std 1671.1-2009 : IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML: Exchanging Test Descriptions / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2009 |
Descrizione fisica | 1 online resource (viii, 185 pages) : illustrations |
Disciplina | 621.381548 |
Soggetto topico | Automatic test equipment |
ISBN | 0-7381-6066-0 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti |
1671.1-2009 - IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.1-2009 |
Record Nr. | UNISA-996278287203316 |
New York : , : IEEE, , 2009 | ||
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