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IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description : Redline / / IEEE
| IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description : Redline / / IEEE |
| Edizione | [(Revision of IEEE Std 1671.5-2008).] |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, N.J. : , : IEEE, , 2015 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (52 pages) |
| Disciplina | 620.0 |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| ISBN | 0-7381-9824-2 |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1671.5-2015 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.5-2015 (Revision of IEEE Std 1671.5-2008) - Redline: IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description - Redline IEEE Standard for Automatic Test Markup Language IEEE Std 1671.5-2015 |
| Record Nr. | UNISA-996278284703316 |
| Piscataway, N.J. : , : IEEE, , 2015 | ||
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IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Station Description : Redline / / IEEE
| IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Station Description : Redline / / IEEE |
| Edizione | [(Revision of IEEE Std 1671.6-2008).] |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, N.J. : , : IEEE, , 2015 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (63 pages) |
| Disciplina | 620.0 |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| ISBN | 0-7381-9760-2 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1671.6-2015 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.6-2015 (Revision of IEEE Std 1671.6-2008) - Redline: IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Station Description - Redline IEEE Standard for Automatic Test Markup Language IEEE Std 1671.6-2015 |
| Record Nr. | UNINA-9910135873303321 |
| Piscataway, N.J. : , : IEEE, , 2015 | ||
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IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Station Description : Redline / / IEEE
| IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Station Description : Redline / / IEEE |
| Edizione | [(Revision of IEEE Std 1671.6-2008).] |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, N.J. : , : IEEE, , 2015 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (63 pages) |
| Disciplina | 620.0 |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| ISBN | 0-7381-9760-2 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1671.6-2015 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.6-2015 (Revision of IEEE Std 1671.6-2008) - Redline: IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Station Description - Redline IEEE Standard for Automatic Test Markup Language IEEE Std 1671.6-2015 |
| Record Nr. | UNISA-996278284203316 |
| Piscataway, N.J. : , : IEEE, , 2015 | ||
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IEEE Standard for Software Interface for Resource Management for a Broad-Based Environment for Test (ABBET) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
| IEEE Standard for Software Interface for Resource Management for a Broad-Based Environment for Test (ABBET) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), , 1995 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico |
Automatic test equipment
Computer software |
| ISBN | 0-7381-3966-1 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1226.3-1998 - IEEE Standard for Software Interface for Resource Management for a Broad-Based Environment for Test
ANSI Std N42.20-1995 IEEE Std 1226.3-1998: IEEE Standard for Software Interface for Resource Management for a Broad-Based Environment for Test (ABBET) IEEE Standard for Software Interface for Resource Management for a Broad-Based Environment for Test |
| Record Nr. | UNISA-996280526403316 |
| New York : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), , 1995 | ||
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IEEE Standard for Software Interface for Resource Management for a Broad-Based Environment for Test (ABBET) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
| IEEE Standard for Software Interface for Resource Management for a Broad-Based Environment for Test (ABBET) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), , 1995 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico |
Automatic test equipment
Computer software |
| ISBN | 0-7381-3966-1 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1226.3-1998 - IEEE Standard for Software Interface for Resource Management for a Broad-Based Environment for Test
ANSI Std N42.20-1995 IEEE Std 1226.3-1998: IEEE Standard for Software Interface for Resource Management for a Broad-Based Environment for Test (ABBET) IEEE Standard for Software Interface for Resource Management for a Broad-Based Environment for Test |
| Record Nr. | UNINA-9910142238303321 |
| New York : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), , 1995 | ||
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IEEE Std 1445-1998 : IEEE Standard for Digital Test Interchange Format (DTIF) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| IEEE Std 1445-1998 : IEEE Standard for Digital Test Interchange Format (DTIF) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway : , : IEEE, , 1998 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (vi, 99 pages) : illustrations |
| Disciplina | 621.381548 |
| Collana | Online access with subscription: IEEE IET Electronic Library. Standards |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1445-1998 - IEEE Standard for Digital Test Interchange Format
IEEE Std 1445-1998 IEEE Standard for Digital Test Interchange Format |
| Record Nr. | UNISA-996280739703316 |
| Piscataway : , : IEEE, , 1998 | ||
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IEEE Std 1445-1998 : IEEE Standard for Digital Test Interchange Format (DTIF) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| IEEE Std 1445-1998 : IEEE Standard for Digital Test Interchange Format (DTIF) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway : , : IEEE, , 1998 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (vi, 99 pages) : illustrations |
| Disciplina | 621.381548 |
| Collana | Online access with subscription: IEEE IET Electronic Library. Standards |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1445-1998 - IEEE Standard for Digital Test Interchange Format
IEEE Std 1445-1998 IEEE Standard for Digital Test Interchange Format |
| Record Nr. | UNINA-9910142216003321 |
| Piscataway : , : IEEE, , 1998 | ||
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IEEE Std 1445-2016 (Revision of IEEE Std 1445-1998) : IEEE Standard for Digital Test Interchange Format (DTIF) / / IEEE
| IEEE Std 1445-2016 (Revision of IEEE Std 1445-1998) : IEEE Standard for Digital Test Interchange Format (DTIF) / / IEEE |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway : , : IEEE, , [2017] |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| ISBN | 1-5044-3691-1 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1445-2016 - IEEE Standard for Digital Test Interchange Format
IEEE Std 1445-2016 |
| Record Nr. | UNINA-9910172600103321 |
| Piscataway : , : IEEE, , [2017] | ||
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IEEE Std 1445-2016 (Revision of IEEE Std 1445-1998) : IEEE Standard for Digital Test Interchange Format (DTIF) / / IEEE
| IEEE Std 1445-2016 (Revision of IEEE Std 1445-1998) : IEEE Standard for Digital Test Interchange Format (DTIF) / / IEEE |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway : , : IEEE, , [2017] |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| ISBN | 1-5044-3691-1 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1445-2016 - IEEE Standard for Digital Test Interchange Format
IEEE Std 1445-2016 |
| Record Nr. | UNISA-996280196103316 |
| Piscataway : , : IEEE, , [2017] | ||
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IEEE Std 1546-2000 / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| IEEE Std 1546-2000 / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2001 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (v, 32 pages) : illustrations |
| Disciplina | 681.2 |
| Soggetto topico |
Automatic test equipment
Automatic test equipment - Display systems |
| ISBN | 0-7381-2628-4 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1546-2000 - IEEE Guide for Digital Test Interchange Format
IEEE Std 1546-2000: IEEE Guide for Digital Test Interchange Format (DTIF) Application IEEE Guide for Digital Test Interchange Format |
| Record Nr. | UNINA-9910147198603321 |
| New York : , : IEEE, , 2001 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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