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IEEE Std 1671.4-2007 : IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via eXtensible Markup Language (XML): Exchanging Test Configuration Information / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| IEEE Std 1671.4-2007 : IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via eXtensible Markup Language (XML): Exchanging Test Configuration Information / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2008 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (viii, 22 pages) : illustrations |
| Disciplina | 005.72 |
| Soggetto topico |
XML (Document markup language)
Automatic test equipment Digital electronics |
| ISBN | 0-7381-5370-2 |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1671.4-2007 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.4-2007 IEEE Standard for Automatic Test Markup Language |
| Record Nr. | UNISA-996278286903316 |
| New York : , : IEEE, , 2008 | ||
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IEEE Std 1671.5-2008 (Full_Use) : IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via XML:Exchanging Test Adapter Information / / IEEE
| IEEE Std 1671.5-2008 (Full_Use) : IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via XML:Exchanging Test Adapter Information / / IEEE |
| Pubbl/distr/stampa | New York, N.Y. : , : IEEE, , 2012 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (viii, 29 pages) : illustrations |
| Disciplina | 620.0 |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| ISBN | 0-7381-8166-8 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1671.5-2008 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language IEEE Std 1671.5-2008 |
| Record Nr. | UNINA-9910135874903321 |
| New York, N.Y. : , : IEEE, , 2012 | ||
| Materiale a stampa | ||
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IEEE Std 1671.5-2008 (Full_Use) : IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via XML:Exchanging Test Adapter Information / / IEEE
| IEEE Std 1671.5-2008 (Full_Use) : IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via XML:Exchanging Test Adapter Information / / IEEE |
| Pubbl/distr/stampa | New York, N.Y. : , : IEEE, , 2012 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (viii, 29 pages) : illustrations |
| Disciplina | 620.0 |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| ISBN | 0-7381-8166-8 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1671.5-2008 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language IEEE Std 1671.5-2008 |
| Record Nr. | UNISA-996278284403316 |
| New York, N.Y. : , : IEEE, , 2012 | ||
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IEEE Std 1671.6-2008 : IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via XML: Exchanging Test Station Information / / IEEE
| IEEE Std 1671.6-2008 : IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via XML: Exchanging Test Station Information / / IEEE |
| Pubbl/distr/stampa | New York, N.Y. : , : IEEE, , 2008 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (viii, 20 pages) |
| Disciplina | 620.0 |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| ISBN | 0-7381-5808-9 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1671.6-2008 - IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.6-2008 |
| Record Nr. | UNINA-9910135874103321 |
| New York, N.Y. : , : IEEE, , 2008 | ||
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IEEE Std 1671.6-2008 : IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via XML: Exchanging Test Station Information / / IEEE
| IEEE Std 1671.6-2008 : IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via XML: Exchanging Test Station Information / / IEEE |
| Pubbl/distr/stampa | New York, N.Y. : , : IEEE, , 2008 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (viii, 20 pages) |
| Disciplina | 620.0 |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| ISBN | 0-7381-5808-9 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1671.6-2008 - IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.6-2008 |
| Record Nr. | UNISA-996278283803316 |
| New York, N.Y. : , : IEEE, , 2008 | ||
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IEEE Std 1871.2-2017 : IEEE Recommended Practice for IEEE 1671 Test Equipment Templates and Extension Classes for Describing Intrinsic Signal Path Information for Cables, Interface Adapters, and Test Equipment / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| IEEE Std 1871.2-2017 : IEEE Recommended Practice for IEEE 1671 Test Equipment Templates and Extension Classes for Describing Intrinsic Signal Path Information for Cables, Interface Adapters, and Test Equipment / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | New Year : , : IEEE, , [2018] |
| Descrizione fisica | 1 online resource (26 pages) |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| ISBN | 1-5044-4287-3 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | IEEE Std 1871.2-2017 |
| Record Nr. | UNISA-996279527903316 |
| New Year : , : IEEE, , [2018] | ||
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IEEE Std 1871.2-2017 : IEEE Recommended Practice for IEEE 1671 Test Equipment Templates and Extension Classes for Describing Intrinsic Signal Path Information for Cables, Interface Adapters, and Test Equipment / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| IEEE Std 1871.2-2017 : IEEE Recommended Practice for IEEE 1671 Test Equipment Templates and Extension Classes for Describing Intrinsic Signal Path Information for Cables, Interface Adapters, and Test Equipment / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | New Year : , : IEEE, , [2018] |
| Descrizione fisica | 1 online resource (26 pages) |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| ISBN | 1-5044-4287-3 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | IEEE Std 1871.2-2017 |
| Record Nr. | UNINA-9910263725003321 |
| New Year : , : IEEE, , [2018] | ||
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IEEE Std 716-1989 : IEEE Standard C/ATLAS Test Language / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| IEEE Std 716-1989 : IEEE Standard C/ATLAS Test Language / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified] : , : IEEE, , 1985 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Disciplina | 681.2 |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| ISBN | 0-7381-4400-2 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
ANSI/IEEE Std 716-1985
IEEE Std 716-1989: IEEE Standard C/ATLAS Test Language |
| Record Nr. | UNINA-9910135987003321 |
| [Place of publication not identified] : , : IEEE, , 1985 | ||
| Materiale a stampa | ||
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IEEE Std 716-1989 : IEEE Standard C/ATLAS Test Language / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| IEEE Std 716-1989 : IEEE Standard C/ATLAS Test Language / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified] : , : IEEE, , 1985 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Disciplina | 681.2 |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| ISBN | 0-7381-4400-2 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
ANSI/IEEE Std 716-1985
IEEE Std 716-1989: IEEE Standard C/ATLAS Test Language |
| Record Nr. | UNISA-996279414603316 |
| [Place of publication not identified] : , : IEEE, , 1985 | ||
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IEEE Std 771-1989 : IEEE Guide to the Used of the ATLAS Specification / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| IEEE Std 771-1989 : IEEE Guide to the Used of the ATLAS Specification / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified] : , : IEEE, , 1989 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Disciplina | 681.2 |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| ISBN | 1-55937-017-3 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | IEEE Std 771-1989: IEEE Guide to the Used of the ATLAS Specification |
| Record Nr. | UNINA-9910135985903321 |
| [Place of publication not identified] : , : IEEE, , 1989 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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