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IEEE Std 1671.1-2009 : IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML: Exchanging Test Descriptions / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| IEEE Std 1671.1-2009 : IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML: Exchanging Test Descriptions / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2009 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (viii, 185 pages) : illustrations |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| ISBN | 0-7381-6066-0 |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1671.1-2009 - IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.1-2009 |
| Record Nr. | UNINA-9910135876603321 |
| New York : , : IEEE, , 2009 | ||
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IEEE Std 1671.1-2009 (Full_Use) / / IEEE
| IEEE Std 1671.1-2009 (Full_Use) / / IEEE |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2009 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (195 pages) |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| ISBN | 0-7381-8152-8 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1671.1-2009 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.1-2009 (Full_Use): IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML: Exchanging Test Descriptions IEEE Standard for Automatic Test Markup Language IEEE Std 1671.1-2009 |
| Record Nr. | UNINA-9910135876403321 |
| New York : , : IEEE, , 2009 | ||
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IEEE Std 1671.1-2009 (Full_Use) / / IEEE
| IEEE Std 1671.1-2009 (Full_Use) / / IEEE |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2009 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (195 pages) |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| ISBN | 0-7381-8152-8 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1671.1-2009 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.1-2009 (Full_Use): IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML: Exchanging Test Descriptions IEEE Standard for Automatic Test Markup Language IEEE Std 1671.1-2009 |
| Record Nr. | UNISA-996278287303316 |
| New York : , : IEEE, , 2009 | ||
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IEEE STD 1671.2-2008 : IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information Via XML: Exchanging Instrument Descriptions / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| IEEE STD 1671.2-2008 : IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information Via XML: Exchanging Instrument Descriptions / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2008 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (ix, 216 pages) |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico |
Automatic test equipment
Digital electronics |
| ISBN | 0-7381-5804-6 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1671.2-2008 - IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE STD 1671.2-2008 IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language |
| Record Nr. | UNISA-996278276103316 |
| New York : , : IEEE, , 2008 | ||
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IEEE STD 1671.2-2008 : IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information Via XML: Exchanging Instrument Descriptions / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| IEEE STD 1671.2-2008 : IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information Via XML: Exchanging Instrument Descriptions / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2008 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (ix, 216 pages) |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico |
Automatic test equipment
Digital electronics |
| ISBN | 0-7381-5804-6 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1671.2-2008 - IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE STD 1671.2-2008 IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language |
| Record Nr. | UNINA-9910141948403321 |
| New York : , : IEEE, , 2008 | ||
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IEEE Std 1671.2-2012 (Revision of IEEE Std 1671.2-2008) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| IEEE Std 1671.2-2012 (Revision of IEEE Std 1671.2-2008) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2013 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (ix, 40 pages) : illustrations |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico |
Automatic test equipment
Digital electronics |
| ISBN | 0-7381-8144-7 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1671.2-2012 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.2-2012 (Revision of IEEE Std 1671.2-2008): IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Instrument Description IEEE Std 1671.2-2012 |
| Record Nr. | UNISA-996278287403316 |
| New York : , : IEEE, , 2013 | ||
| Materiale a stampa | ||
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IEEE Std 1671.2-2012 (Revision of IEEE Std 1671.2-2008) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| IEEE Std 1671.2-2012 (Revision of IEEE Std 1671.2-2008) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2013 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (ix, 40 pages) : illustrations |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico |
Automatic test equipment
Digital electronics |
| ISBN | 0-7381-8144-7 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1671.2-2012 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.2-2012 (Revision of IEEE Std 1671.2-2008): IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Instrument Description IEEE Std 1671.2-2012 |
| Record Nr. | UNINA-9910135876303321 |
| New York : , : IEEE, , 2013 | ||
| Materiale a stampa | ||
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IEEE Std 1671.2-2012 (Revision of IEEE Std 1671.2-2008) - Redline / / IEEE
| IEEE Std 1671.2-2012 (Revision of IEEE Std 1671.2-2008) - Redline / / IEEE |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2013 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (52 pages) |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| ISBN | 0-7381-8376-8 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1671.2-2012 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.2-2012 (Revision of IEEE Std 1671.2-2008) - Redline: IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Instrument Description - Redline IEEE Std 1671.2-2012 |
| Record Nr. | UNINA-9910135876103321 |
| New York : , : IEEE, , 2013 | ||
| Materiale a stampa | ||
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IEEE Std 1671.2-2012 (Revision of IEEE Std 1671.2-2008) - Redline / / IEEE
| IEEE Std 1671.2-2012 (Revision of IEEE Std 1671.2-2008) - Redline / / IEEE |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2013 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (52 pages) |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| ISBN | 0-7381-8376-8 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1671.2-2012 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.2-2012 (Revision of IEEE Std 1671.2-2008) - Redline: IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Instrument Description - Redline IEEE Std 1671.2-2012 |
| Record Nr. | UNISA-996278286703316 |
| New York : , : IEEE, , 2013 | ||
| Materiale a stampa | ||
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IEEE Std 1671.4-2007 : IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via eXtensible Markup Language (XML): Exchanging Test Configuration Information / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| IEEE Std 1671.4-2007 : IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via eXtensible Markup Language (XML): Exchanging Test Configuration Information / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2008 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (viii, 22 pages) : illustrations |
| Disciplina | 005.72 |
| Soggetto topico |
XML (Document markup language)
Automatic test equipment Digital electronics |
| ISBN | 0-7381-5370-2 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1671.4-2007 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.4-2007 IEEE Standard for Automatic Test Markup Language |
| Record Nr. | UNINA-9910135875603321 |
| New York : , : IEEE, , 2008 | ||
| Materiale a stampa | ||
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