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Regression Models for categorical and limited dependent variables / Long J. Scott
Regression Models for categorical and limited dependent variables / Long J. Scott
Autore LONG, J. Scott
Pubbl/distr/stampa Thousand Oaks ; London ; New Delhi : Sage Publications, 1997
Descrizione fisica 298 p. : graf. ; 24 cm.
Disciplina 519.536(Analisi della regressione)
Collana Advanced quantitative techniques in the social science series. - Thousand Oaks
Soggetto topico Analisi della regressione
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-990005498430203316
LONG, J. Scott  
Thousand Oaks ; London ; New Delhi : Sage Publications, 1997
Materiale a stampa
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Residual and influence in regression / R. Dennis Cook and Sanford Weisberg
Residual and influence in regression / R. Dennis Cook and Sanford Weisberg
Autore COOK, Dennis R.
Pubbl/distr/stampa London : Chapman & Hall, 1982. 229 p. . graf. ; 22 cm.
Disciplina 519.536(Analisi della regressione)
Altri autori (Persone) WEISBERG, Sanford
Collana Monographs on statistics and applied probability
Soggetto topico Analisi della regressione
Statistica
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-990005444300203316
COOK, Dennis R.  
London : Chapman & Hall, 1982. 229 p. . graf. ; 22 cm.
Materiale a stampa
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Robust diagnostic regression analysis / Anthony Atkinson, Marco Riani
Robust diagnostic regression analysis / Anthony Atkinson, Marco Riani
Autore ATKINSON, Antony Curtis
Pubbl/distr/stampa New York ; Berlin : Springer, 2000
Descrizione fisica 327 p. : 192 ill. ; 24 cm
Disciplina 519.536(Analisi della regressione)
Altri autori (Persone) RIANI, Marco
Collana Springer series in statistics
Soggetto topico Analisi della regressione
Statistica robusta
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-990005500820203316
ATKINSON, Antony Curtis  
New York ; Berlin : Springer, 2000
Materiale a stampa
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Robust regression : analysis and applications / edited by Kenneth D. Lawrence, Jeffrey L. Arthur
Robust regression : analysis and applications / edited by Kenneth D. Lawrence, Jeffrey L. Arthur
Pubbl/distr/stampa New York ; Basel : Dekker, c1990
Descrizione fisica xii, 287 p. ; 24 cm
Disciplina 519.536
Altri autori (Persone) Arthur, Jeffrey L
Lawrence, Kenneth D
Collana Statistics, textbooks and monographs ; 108
Soggetto topico Analisi della regressione
Statistica matematica
ISBN 0824781295
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISALENTO-991000716399707536
New York ; Basel : Dekker, c1990
Materiale a stampa
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Robust regression and outlier detection / Peter J. Rousseeuw, Annick M. Leroy. New York : John Wiley & Sons, 1987. 329 p. : graf. ; 23 cm.
Robust regression and outlier detection / Peter J. Rousseeuw, Annick M. Leroy. New York : John Wiley & Sons, 1987. 329 p. : graf. ; 23 cm.
Autore ROUSSEEUW, Peter J.
Disciplina 519.536(Analisi della regressione)
Altri autori (Persone) LEROY, Annick M.
Collana Wiley series in probability and mathematical statistics
Soggetto topico Analisi della regressione
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-990005443430203316
ROUSSEEUW, Peter J.  
Materiale a stampa
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Robust regression and outlier detection / Peter J. Rousseeuw, Annick M. Leroy
Robust regression and outlier detection / Peter J. Rousseeuw, Annick M. Leroy
Autore Rousseeuw, Peter J
Pubbl/distr/stampa New York [etc.] : Wiley, c1987
Descrizione fisica xiv, 329 p. ; 23 cm
Disciplina 519.536
Altri autori (Persone) Leroy, Annick M
Collana Wiley series in probability and mathematical statistics
Soggetto topico Analisi della regressione
Statistica matematica
ISBN 0471852333
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISALENTO-991000716459707536
Rousseeuw, Peter J  
New York [etc.] : Wiley, c1987
Materiale a stampa
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Seemingly unrelated regression equations models : estimation and inference / Virendra K. Srivastava, David E.A. Giles
Seemingly unrelated regression equations models : estimation and inference / Virendra K. Srivastava, David E.A. Giles
Autore Srivastava, Virendra K
Pubbl/distr/stampa New York ; Basel : Dekker, c1987
Descrizione fisica xii, 374 p. ; 24 cm.
Disciplina 511.4
Altri autori (Persone) Giles, David E. A
Collana Statistics, textbooks and monographs ; 80
Soggetto topico Analisi della regressione
Approssimazioni e espansioni
Inferenza statistica
ISBN 0824776100
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISALENTO-991000723989707536
Srivastava, Virendra K  
New York ; Basel : Dekker, c1987
Materiale a stampa
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Semiparametric regression / David Ruppert, M. P. Wand, R. J. Carroll
Semiparametric regression / David Ruppert, M. P. Wand, R. J. Carroll
Autore Ruppert, David
Pubbl/distr/stampa Cambridge, : Cambridge Univ. Press, 2003
Descrizione fisica XVI, 386 p. : graf. ; 26 cm
Disciplina 519.536
Altri autori (Persone) Carroll, Raymond J.
Wand, Matthew P.
Soggetto topico Analisi della regressione
ISBN 0521780500
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAS-RML0266047
Ruppert, David  
Cambridge, : Cambridge Univ. Press, 2003
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Cassino
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Semiparametric regression / David Ruppert, M. P. Wand, R. J. Carroll.- Cambridge : Cambridge University Press, 2003
Semiparametric regression / David Ruppert, M. P. Wand, R. J. Carroll.- Cambridge : Cambridge University Press, 2003
Autore RUPPERT, David
Disciplina 519.536(Analisi della regressione)
Altri autori (Persone) WAND, Matthew P.
CARROLL, Raymond J
Collana Cambridge series in statistical and probabilistic Mathematics
Soggetto topico Analisi della regressione
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-990005511340203316
RUPPERT, David  
Materiale a stampa
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Sensitivity analysis in linear regression / Samprit Chatterjee, Ali S. Hadi
Sensitivity analysis in linear regression / Samprit Chatterjee, Ali S. Hadi
Autore Chatterjee, Samprit
Pubbl/distr/stampa New York : Wiley, c1988
Descrizione fisica xiv, 315 p. ; 24 cm.
Disciplina 519.536
Altri autori (Persone) Hadi, Ali S.
Collana Wiley series in probability and mathematical statistics. Applied probability and statistics
Soggetto topico Analisi della regressione
Statistica - Metodi matematici
ISBN 0471822167
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione |||
Record Nr. UNISALENTO-991000724989707536
Chatterjee, Samprit  
New York : Wiley, c1988
Materiale a stampa
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