IEEE Std 1671-2006 : IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2006 |
Descrizione fisica | 1 online resource (89 pages) |
Disciplina | 621.381548 |
Soggetto topico | Automatic test equipment |
ISBN | 0-7381-5246-3 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti |
1671-2006 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
1671-2006 - IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language IEEE Std 1671-2006 |
Record Nr. | UNINA-9910135877003321 |
New York : , : IEEE, , 2006 | ||
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IEEE Std 1671-2006 : IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2006 |
Descrizione fisica | 1 online resource (89 pages) |
Disciplina | 621.381548 |
Soggetto topico | Automatic test equipment |
ISBN | 0-7381-5246-3 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti |
1671-2006 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
1671-2006 - IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language IEEE Std 1671-2006 |
Record Nr. | UNISA-996278286103316 |
New York : , : IEEE, , 2006 | ||
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IEEE Std 1671-2010 (Revision of IEEE Std 1671-2006) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2011 |
Descrizione fisica | 1 online resource (viii, 378 pages) : illustrations |
Disciplina | 621.381548 |
Soggetto topico | Automatic test equipment |
ISBN | 0-7381-6456-9 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti |
1671-2010 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671-2010 (Revision of IEEE Std 1671-2006): IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML IEEE Std 1671-2010 |
Record Nr. | UNINA-9910135876803321 |
New York : , : IEEE, , 2011 | ||
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IEEE Std 1671-2010 (Revision of IEEE Std 1671-2006) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2011 |
Descrizione fisica | 1 online resource (viii, 378 pages) : illustrations |
Disciplina | 621.381548 |
Soggetto topico | Automatic test equipment |
ISBN | 0-7381-6456-9 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti |
1671-2010 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671-2010 (Revision of IEEE Std 1671-2006): IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML IEEE Std 1671-2010 |
Record Nr. | UNISA-996278287103316 |
New York : , : IEEE, , 2011 | ||
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IEEE Std 1671.1-2009 : IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML: Exchanging Test Descriptions / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2009 |
Descrizione fisica | 1 online resource (viii, 185 pages) : illustrations |
Disciplina | 621.381548 |
Soggetto topico | Automatic test equipment |
ISBN | 0-7381-6066-0 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti |
1671.1-2009 - IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.1-2009 |
Record Nr. | UNISA-996278287203316 |
New York : , : IEEE, , 2009 | ||
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IEEE Std 1671.1-2009 : IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML: Exchanging Test Descriptions / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2009 |
Descrizione fisica | 1 online resource (viii, 185 pages) : illustrations |
Disciplina | 621.381548 |
Soggetto topico | Automatic test equipment |
ISBN | 0-7381-6066-0 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti |
1671.1-2009 - IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.1-2009 |
Record Nr. | UNINA-9910135876603321 |
New York : , : IEEE, , 2009 | ||
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IEEE Std 1671.1-2009 (Full_Use) / / IEEE |
Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2009 |
Descrizione fisica | 1 online resource (195 pages) |
Disciplina | 621.381548 |
Soggetto topico | Automatic test equipment |
ISBN | 0-7381-8152-8 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti |
1671.1-2009 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.1-2009 (Full_Use): IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML: Exchanging Test Descriptions IEEE Standard for Automatic Test Markup Language IEEE Std 1671.1-2009 |
Record Nr. | UNINA-9910135876403321 |
New York : , : IEEE, , 2009 | ||
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IEEE Std 1671.1-2009 (Full_Use) / / IEEE |
Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2009 |
Descrizione fisica | 1 online resource (195 pages) |
Disciplina | 621.381548 |
Soggetto topico | Automatic test equipment |
ISBN | 0-7381-8152-8 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti |
1671.1-2009 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.1-2009 (Full_Use): IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML: Exchanging Test Descriptions IEEE Standard for Automatic Test Markup Language IEEE Std 1671.1-2009 |
Record Nr. | UNISA-996278287303316 |
New York : , : IEEE, , 2009 | ||
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IEEE Std 1671.1-2017 (Revision of IEEE Std 1671.1‐2009) : IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Descriptions / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2018 |
Descrizione fisica | 1 online resource |
Disciplina | 621.381548 |
Soggetto topico | Electronic measurements |
ISBN | 1-5044-4631-3 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti |
1671.1-2017 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.1-2017 |
Record Nr. | UNINA-9910332538603321 |
[Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2018 | ||
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IEEE Std 1671.1-2017 (Revision of IEEE Std 1671.1‐2009) : IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Descriptions / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2018 |
Descrizione fisica | 1 online resource |
Disciplina | 621.381548 |
Soggetto topico | Electronic measurements |
ISBN | 1-5044-4631-3 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti |
1671.1-2017 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.1-2017 |
Record Nr. | UNISA-996577957603316 |
[Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2018 | ||
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