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Esercizi di misure elettriche ed elettroniche / Enrico Rubiola, Andrea De Marchi, Sigfrido Leschiutta
| Esercizi di misure elettriche ed elettroniche / Enrico Rubiola, Andrea De Marchi, Sigfrido Leschiutta |
| Autore | Rubiola, Enrico |
| Pubbl/distr/stampa | Torino : Clut, c1996 |
| Descrizione fisica | viii, 221 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina |
621.381548
621.37 |
| Altri autori (Persone) |
Leschiutta, Sigfrido
De Marchi, Andreaauthor |
| Soggetto topico |
Electric measurements - Problems, exercises
Electronic measurements - Problems, exercises |
| ISBN | 8879921010 |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | ita |
| Record Nr. | UNISALENTO-991001734069707536 |
Rubiola, Enrico
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| Torino : Clut, c1996 | ||
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First International Conference on Electronics Instrumentation & Information Systems (EIIS 2017) : June 3-5, Harbin, China / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| First International Conference on Electronics Instrumentation & Information Systems (EIIS 2017) : June 3-5, Harbin, China / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2017 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (544 pages) |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico |
Electronic instruments
Information technology |
| ISBN | 1-5386-0843-X |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-996280268003316 |
| Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2017 | ||
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First International Conference on Electronics Instrumentation & Information Systems (EIIS 2017) : June 3-5, Harbin, China / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| First International Conference on Electronics Instrumentation & Information Systems (EIIS 2017) : June 3-5, Harbin, China / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2017 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (544 pages) |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico |
Electronic instruments
Information technology |
| ISBN | 1-5386-0843-X |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910261159703321 |
| Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2017 | ||
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Fondamenti di misure e strumentazione elettronica / A. Carullo, U. Pisani, A. Vallan
| Fondamenti di misure e strumentazione elettronica / A. Carullo, U. Pisani, A. Vallan |
| Autore | Carullo, Alessio |
| Pubbl/distr/stampa | Torino, : CLUT, 2006 |
| Descrizione fisica | 235 p. ; 24 cm. |
| Disciplina |
621.3815
621.381548 |
| Altri autori (Persone) |
Pisani, Umberto
Vallan, Alessandro |
| Soggetto topico |
Misure elettroniche
Strumenti elettronici per misure |
| ISBN | 8879922092 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | ita |
| Record Nr. | UNISANNIO-TO01572228 |
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Carullo, Alessio
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| Torino, : CLUT, 2006 | ||
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High frequency measurements and noise in electronic circuits / Douglas C. Smith
| High frequency measurements and noise in electronic circuits / Douglas C. Smith |
| Autore | Smith, Douglas Charles <1947- > |
| Pubbl/distr/stampa | New York, : Van Nostrand Reinhold, c1993 |
| Descrizione fisica | XIV, 231 p. : ill. ; 24 cm. |
| Disciplina |
621.3815
621.381548 |
| Soggetto topico | Strumenti per misure elettroniche |
| ISBN | 0442006365 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISANNIO-UAN0002288 |
|
Smith, Douglas Charles <1947- >
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| New York, : Van Nostrand Reinhold, c1993 | ||
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High frequency measurements and noise in electronic circuits / Douglas c. Smith
| High frequency measurements and noise in electronic circuits / Douglas c. Smith |
| Autore | Smith, Douglas Charles <1947- > |
| Pubbl/distr/stampa | Boston [etc.], : Kluwer, c1993 |
| Descrizione fisica | XIV, 231 p. : ill. ; 24 cm. |
| Disciplina |
621.3815
621.381548 |
| Soggetto topico | Strumenti elettronici per misure |
| ISBN | 0442006365 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISANNIO-UAN0144602 |
|
Smith, Douglas Charles <1947- >
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| Boston [etc.], : Kluwer, c1993 | ||
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ICMTS : 2019 IEEE 32nd International Conference on Microelectronic Test Structures : March 18-21, Kitakyushu International Conference Center, Kitakyushu City, Fukuoka Prefecture, Japan / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| ICMTS : 2019 IEEE 32nd International Conference on Microelectronic Test Structures : March 18-21, Kitakyushu International Conference Center, Kitakyushu City, Fukuoka Prefecture, Japan / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2019 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (xiv, 199 pages) |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico |
Integrated circuits - Testing
Semiconductors - Testing |
| ISBN | 1-7281-1466-7 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910326259103321 |
| Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2019 | ||
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ICMTS : 2019 IEEE 32nd International Conference on Microelectronic Test Structures : March 18-21, Kitakyushu International Conference Center, Kitakyushu City, Fukuoka Prefecture, Japan / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| ICMTS : 2019 IEEE 32nd International Conference on Microelectronic Test Structures : March 18-21, Kitakyushu International Conference Center, Kitakyushu City, Fukuoka Prefecture, Japan / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2019 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (xiv, 199 pages) |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico |
Integrated circuits - Testing
Semiconductors - Testing |
| ISBN | 1-7281-1466-7 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-996577839503316 |
| Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2019 | ||
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ICMTS 2015 : proceedings of the 2015 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures : March 23-26, 2015, Doubletree Hotel, Tempe, Arizona / / sponsored by the IEEE Electron Devices Society
| ICMTS 2015 : proceedings of the 2015 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures : March 23-26, 2015, Doubletree Hotel, Tempe, Arizona / / sponsored by the IEEE Electron Devices Society |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2015 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (217 pages) |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico |
Integrated circuits - Testing
Semiconductors - Testing Electronic apparatus and appliances - Testing |
| ISBN | 1-4799-8304-7 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910131305003321 |
| Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2015 | ||
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ICMTS 2015 : proceedings of the 2015 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures : March 23-26, 2015, Doubletree Hotel, Tempe, Arizona / / sponsored by the IEEE Electron Devices Society
| ICMTS 2015 : proceedings of the 2015 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures : March 23-26, 2015, Doubletree Hotel, Tempe, Arizona / / sponsored by the IEEE Electron Devices Society |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2015 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (217 pages) |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico |
Integrated circuits - Testing
Semiconductors - Testing Electronic apparatus and appliances - Testing |
| ISBN | 1-4799-8304-7 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-996280842303316 |
| Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2015 | ||
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