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Handbook of reliability engineering and management / W. Grant Ireson, Clyde F. Coombs, Jr
| Handbook of reliability engineering and management / W. Grant Ireson, Clyde F. Coombs, Jr |
| Pubbl/distr/stampa | New York ; London, : McGraw-Hill, 1996 |
| Descrizione fisica | [500] p. varie sequenze ; 25 cm |
| Disciplina | 620.00452 |
| ISBN | 00-7032-039-X |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN0037776 |
| New York ; London, : McGraw-Hill, 1996 | ||
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Human Factors and Reliability Engineering for Safety and Security in Critical Infrastructures : Decision Making, Theory, and Practice / / edited by Fabio De Felice, Antonella Petrillo
| Human Factors and Reliability Engineering for Safety and Security in Critical Infrastructures : Decision Making, Theory, and Practice / / edited by Fabio De Felice, Antonella Petrillo |
| Edizione | [1st ed. 2018.] |
| Pubbl/distr/stampa | Cham : , : Springer International Publishing : , : Imprint : Springer, , 2018 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (VIII, 258 p. 20 illus.) |
| Disciplina | 620.00452 |
| Collana | Springer Series in Reliability Engineering |
| Soggetto topico |
Quality control
Reliability Industrial safety Mechanical engineering Operations research Decision making Quality Control, Reliability, Safety and Risk Mechanical Engineering Operations Research/Decision Theory |
| ISBN | 3-319-62319-2 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Nota di contenuto | The Importance of Human Error and Reliability Management in Critical Conditions and Infrastructures -- An Overview on Human Error Analysis and Reliability Assessment -- Mathematical Models for Reliability Allocation and Optimization for Complex Systems -- Integrated Engineering Approach to Safety, Reliability, Risk Management and Human Factors -- A Fuzzy Modeling Application for Human Reliability Analysis in the Process Industry. |
| Record Nr. | UNINA-9910299897303321 |
| Cham : , : Springer International Publishing : , : Imprint : Springer, , 2018 | ||
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IEEE Annual International Reliability Physics, 1991
| IEEE Annual International Reliability Physics, 1991 |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : IEEE, 1991 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (viii, 367 pages) : illustrations |
| Disciplina | 620.00452 |
| Soggetto topico | Reliability (Engineering) |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-996208105303316 |
| [Place of publication not identified], : IEEE, 1991 | ||
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IEEE Annual International Reliability Physics, 1991
| IEEE Annual International Reliability Physics, 1991 |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : IEEE, 1991 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (viii, 367 pages) : illustrations |
| Disciplina | 620.00452 |
| Soggetto topico | Reliability (Engineering) |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910872816703321 |
| [Place of publication not identified], : IEEE, 1991 | ||
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IEEE International Reliability Physics Symposium 2002
| IEEE International Reliability Physics Symposium 2002 |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2002 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (x, 476 pages) : illustrations |
| Disciplina | 620.00452 |
| Soggetto topico | Reliability (Engineering) |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Nota di contenuto | Non Volatile Memory; Dielectrics; Hot Carriers; Assembly/Packaging; Device Dielectrics; Device & Process; Interconnects; Non Volatile Memory; Product Reliability; Compound Semiconductor Failure Analysis. |
| Record Nr. | UNISA-996216902003316 |
| [Place of publication not identified], : I E E E, 2002 | ||
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IEEE International Reliability Physics Symposium 2002
| IEEE International Reliability Physics Symposium 2002 |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2002 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (x, 476 pages) : illustrations |
| Disciplina | 620.00452 |
| Soggetto topico | Reliability (Engineering) |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Nota di contenuto | Non Volatile Memory; Dielectrics; Hot Carriers; Assembly/Packaging; Device Dielectrics; Device & Process; Interconnects; Non Volatile Memory; Product Reliability; Compound Semiconductor Failure Analysis. |
| Record Nr. | UNINA-9910873017703321 |
| [Place of publication not identified], : I E E E, 2002 | ||
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IEEE reliability magazine
| IEEE reliability magazine |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, NJ : , : IEEE, , 2024- |
| Disciplina | 620.00452 |
| ISSN | 2641-8819 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Periodico |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-996581596503316 |
| Piscataway, NJ : , : IEEE, , 2024- | ||
| Materiale a stampa | ||
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IEEE reliability magazine
| IEEE reliability magazine |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, NJ : , : IEEE, , 2024- |
| Disciplina | 620.00452 |
| ISSN | 2641-8819 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Periodico |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910873384303321 |
| Piscataway, NJ : , : IEEE, , 2024- | ||
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IEEE Standard for Organizational Reliability Capability / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| IEEE Standard for Organizational Reliability Capability / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2009 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (viii, 24 pages) |
| Disciplina | 620.00452 |
| Soggetto topico | Reliability |
| ISBN | 0-7381-5814-3 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
IEEE Std 1624-2008: IEEE Standard for Organizational Reliability Capability
IEEE Std 1624-2008 |
| Record Nr. | UNISA-996278277303316 |
| New York : , : IEEE, , 2009 | ||
| Materiale a stampa | ||
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IEEE Standard for Organizational Reliability Capability / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| IEEE Standard for Organizational Reliability Capability / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2009 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (viii, 24 pages) |
| Disciplina | 620.00452 |
| Soggetto topico | Reliability |
| ISBN | 0-7381-5814-3 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
IEEE Std 1624-2008: IEEE Standard for Organizational Reliability Capability
IEEE Std 1624-2008 |
| Record Nr. | UNINA-9910141946303321 |
| New York : , : IEEE, , 2009 | ||
| Materiale a stampa | ||
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