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Introduction to Isotopic Materials Science / Vladimir G. Plekhanov
| Introduction to Isotopic Materials Science / Vladimir G. Plekhanov |
| Autore | Plekhanov, Vladimir G. |
| Pubbl/distr/stampa | Cham, : Springer, 2018 |
| Descrizione fisica | XVI, 285 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina |
621.36(Ingegneria ottica. Ottica applicata)
620.5(Nanotecnologia) 621.39(Microingegneria) 620.1(Scienze dei materiali) 541.377(Semiconduttori) 537.5344(Microonde e onde a frequenza ultraalta) |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN0125902 |
Plekhanov, Vladimir G.
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| Cham, : Springer, 2018 | ||
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Introduction to Isotopic Materials Science / Vladimir G. Plekhanov
| Introduction to Isotopic Materials Science / Vladimir G. Plekhanov |
| Autore | Plekhanov, Vladimir G. |
| Edizione | [Cham : Springer, 2018] |
| Pubbl/distr/stampa | XVI, 285 p., : ill. ; 24 cm |
| Descrizione fisica | Pubblicazione in formato elettronico |
| Disciplina |
621.36(Ingegneria ottica. Ottica applicata)
620.5(Nanotecnologia) 621.39(Microingegneria) 620.1(Scienza dei materiali) 541.377(Semiconduttori) 537.5344(Microonde e onde a frequenza ultraalta) |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-SUN0125902 |
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Plekhanov, Vladimir G.
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| XVI, 285 p., : ill. ; 24 cm | ||
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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies : Origin, Characterization, Control, and Device Impact / Cor Claeys, Eddy Simoen
| Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies : Origin, Characterization, Control, and Device Impact / Cor Claeys, Eddy Simoen |
| Autore | Claeys, Cor |
| Pubbl/distr/stampa | Cham, : Springer, 2018 |
| Descrizione fisica | XXXIII, 438 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina |
621.36(Ingegneria ottica. Ottica applicata)
620.1(Scienze dei materiali) 541.377(Semiconduttori) 537.5344(Microonde e onde a frequenza ultraalta) |
| Altri autori (Persone) | Simoen, Eddy |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN0125711 |
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Claeys, Cor
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| Cham, : Springer, 2018 | ||
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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies : Origin, Characterization, Control, and Device Impact / Cor Claeys, Eddy Simoen
| Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies : Origin, Characterization, Control, and Device Impact / Cor Claeys, Eddy Simoen |
| Autore | Claeys, Cor |
| Edizione | [Cham : Springer, 2018] |
| Pubbl/distr/stampa | XXXIII, 438 p., : ill. ; 24 cm |
| Descrizione fisica | Pubblicazione in formato elettronico |
| Disciplina |
621.36(Ingegneria ottica. Ottica applicata)
620.1(Scienza dei materiali) 541.377(Semiconduttori) 537.5344(Microonde e onde a frequenza ultraalta) |
| Altri autori (Persone) | Simoen, Eddy |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-SUN0125711 |
|
Claeys, Cor
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| XXXIII, 438 p., : ill. ; 24 cm | ||
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Microonde : teorie elettroniche dei tubi a vuoto alle più alte frequenze : generazione, trasmissione, propagazione, ricezione e tecnica delle microonde / Nello Carrara
| Microonde : teorie elettroniche dei tubi a vuoto alle più alte frequenze : generazione, trasmissione, propagazione, ricezione e tecnica delle microonde / Nello Carrara |
| Autore | Carrara, Nello |
| Pubbl/distr/stampa | Torino : Arti poligrafiche editrici, 1937 |
| Descrizione fisica | 163 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina | 537.5344 |
| Soggetto non controllato | Microonde |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | ita |
| Record Nr. | UNINA-990008815940403321 |
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Carrara, Nello
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| Torino : Arti poligrafiche editrici, 1937 | ||
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Microwave Remote Sensing Tools in Environmental Science / Costas A. Varotsos, Vladimir F. Krapivin
| Microwave Remote Sensing Tools in Environmental Science / Costas A. Varotsos, Vladimir F. Krapivin |
| Autore | Varotsos, Costas A. |
| Pubbl/distr/stampa | Cham, : Springer, 2020 |
| Descrizione fisica | XXIII, 468 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina |
526.982(Fotogrammetria)
338.927(Tecnologia alternativa. Economia ambientale. Sviluppo sostenibile) 910(Geografia generale) 537.5344(Microonde e onde a frequenza ultraalta) |
| Altri autori (Persone) | Krapivin, Vladimir F. |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN0237752 |
|
Varotsos, Costas A.
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| Cham, : Springer, 2020 | ||
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Molecular Electronic Control Over Tunneling Charge Transfer Plasmons Modes / Shu Fen Tan
| Molecular Electronic Control Over Tunneling Charge Transfer Plasmons Modes / Shu Fen Tan |
| Autore | Tan, Shu F. |
| Pubbl/distr/stampa | Singapore, : Springer, 2018 |
| Descrizione fisica | XXXIV, 115 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina |
539(Fisica quantistica)
621.36(Ingegneria ottica. Ottica applicata) 540(Chimica generale) 620.5(Nanotecnologia) 537.5344(Microonde e onde a frequenza ultraalta) |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN0125655 |
|
Tan, Shu F.
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| Singapore, : Springer, 2018 | ||
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Molecular Electronic Control Over Tunneling Charge Transfer Plasmons Modes / Shu Fen Tan
| Molecular Electronic Control Over Tunneling Charge Transfer Plasmons Modes / Shu Fen Tan |
| Autore | Tan, Shu F. |
| Edizione | [Singapore : Springer, 2018] |
| Pubbl/distr/stampa | XXXIV, 115 p., : ill. ; 24 cm |
| Descrizione fisica | Pubblicazione in formato elettronico |
| Disciplina |
539(Fisica quantistica)
621.36(Ingegneria ottica. Ottica applicata) 540(Chimica generale) 620.5(Nanotecnologia) 537.5344(Microonde e onde a frequenza ultraalta) |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-SUN0125655 |
|
Tan, Shu F.
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| XXXIV, 115 p., : ill. ; 24 cm | ||
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Nanoelectronics Fundamentals : Materials, Devices and Systems / Hassan Raza
| Nanoelectronics Fundamentals : Materials, Devices and Systems / Hassan Raza |
| Autore | Raza, Hassan |
| Pubbl/distr/stampa | Cham, : Springer, 2019 |
| Descrizione fisica | XIII, 275 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina |
621.36(Ingegneria ottica. Ottica applicata)
530(Fisica) 620.5(Nanotecnologia) 621.39(Microingegneria) 541.377(Semiconduttori) 537.5344(Microonde e onde a frequenza ultraalta) |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN0126958 |
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Raza, Hassan
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| Cham, : Springer, 2019 | ||
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Nanoelectronics Fundamentals : Materials, Devices and Systems / Hassan Raza
| Nanoelectronics Fundamentals : Materials, Devices and Systems / Hassan Raza |
| Autore | Raza, Hassan |
| Edizione | [Cham : Springer, 2019] |
| Pubbl/distr/stampa | XIII, 275 p., : ill. ; 24 cm |
| Descrizione fisica | Pubblicazione in formato elettronico |
| Disciplina |
621.36(Ingegneria ottica. Ottica applicata)
530(Fisica) 620.5(Nanotecnologia) 621.39(Microingegneria) 541.377(Semiconduttori) 537.5344(Microonde e onde a frequenza ultraalta) |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-SUN0126958 |
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Raza, Hassan
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| XIII, 275 p., : ill. ; 24 cm | ||
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