Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits / Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal
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| Autore: |
Bushnell, Michael Lee <1950- >
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| Titolo: |
Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits / Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal
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| Pubblicazione: | Boston [etc.], : Kluwer Academic, c2000 |
| Titolo uniforme: | Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits |
| Descrizione fisica: | XVIII, 690 p. ; 26 cm. |
| Disciplina: | 621.39 |
| 621.395 | |
| Soggetto topico: | CIRCUITI INTEGRATI - PROVE |
| Circuiti integrati VLSI | |
| Altri autori: |
Agrawal, Vishwani D. <1943- >
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| Titolo autorizzato: | Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits |
| ISBN: | 0792379918 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | UBO1411905 |
| Lo trovi qui: | Univ. del Sannio |
| Collocazione: | SALA DING 621.39 BUS.es |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |
Serie:
Frontiers in electronic testing ; 17