Analog signal generation for Built-in-self-test of mixed-signal integrated circuits / by Gordon W. Roberts, Albert K. Lu
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| Autore: |
Roberts, Gordon W.
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| Titolo: |
Analog signal generation for Built-in-self-test of mixed-signal integrated circuits / by Gordon W. Roberts, Albert K. Lu
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| Pubblicazione: | Boston [etc.], : Kluwer Academic, c1995 |
| Descrizione fisica: | VIII, 122 p. ; 23 cm |
| Disciplina: | 621.3815 |
| 621.381548 | |
| Soggetto topico: | Circuiti integrati - Progettazione |
| Circuiti integrati - Prove | |
| Rivelatori | |
| Strumenti elettronici per misure | |
| Altri autori: |
Lu, Albert K. <1969- >
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| Note generali: | Bibliografia: P. 117-119. |
| Titolo autorizzato: | Analog signal generation for Built-in-self-test of mixed-signal integrated circuits |
| ISBN: | 0792395646 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | MIL0302563 |
| Lo trovi qui: | Univ. del Sannio |
| Collocazione: | SALA DING 621.3815 ROB.an |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |
Serie:
The Kluwer international series in engineering and computer science. Analog circuits and signal processing ; 312