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| Titolo: |
MTDT 2009 : 2009 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing : proceedings, 31 August- 2 September 2009, Hsinchu, Taiwan
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| Pubblicazione: | [Place of publication not identified], : IEEE Computer Society, 2009 |
| Disciplina: | 004.568 |
| Soggetto topico: | Semiconductor storage devices - Testing |
| Random access memory | |
| Electrical & Computer Engineering | |
| Engineering & Applied Sciences | |
| Electrical Engineering | |
| Note generali: | Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph |
| Titolo autorizzato: | MTDT 2009 : 2009 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing : proceedings, 31 August- 2 September 2009, Hsinchu, Taiwan ![]() |
| ISBN: | 1-5090-7335-3 |
| Formato: | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 996216377803316 |
| Lo trovi qui: | Univ. di Salerno |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |