Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces
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| Autore: |
Chen Chia-Wei
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| Titolo: |
Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces
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| Pubblicazione: | KIT Scientific Publishing, 2025 |
| Titolo autorizzato: | Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9911001789403321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |