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Titolo: | 2008 International Conference on Advances in Electronics and Micro-electronics (ENICS) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubblicazione: | Valencia, Spain : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2008 |
Descrizione fisica: | 1 online resource |
Disciplina: | 535 |
Soggetto topico: | Quantum optics |
Altri titoli varianti: | Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography |
Titolo autorizzato: | 2008 International Conference on Advances in Electronics and Micro-electronics (ENICS) |
ISBN: | 1-5090-7732-4 |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910332555203321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |