2006 15th Asian Test Symposium / / IEEE Computer Society

• Pubblicazione: Los Alamitos, California : , : IEEE, , 2006
• Descrizione fisica: 1 online resource (xxiii, 451 pages) : illustrations
• Disciplina: 621.381548015192
• Soggetto topico: Electronic circuits - Testing
• Titolo abbreviato (Periodici): ats
• Altri titoli varianti: 15th Asian Test Symposium
• Titolo autorizzato: 2006 15th Asian Test Symposium
• ISBN: 1-5090-9801-1
• Formato: Materiale a stampa
• Livello bibliografico: Monografia
• Lingua di pubblicazione: Inglese
• Record Nr.: 9910142739503321
• Lo trovi qui: Univ. Federico II