2007 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report : 15-18 October 2007, S. Lake Tahoe, CA, USA / / IEEE Electron Devices Society
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| Titolo: |
2007 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report : 15-18 October 2007, S. Lake Tahoe, CA, USA / / IEEE Electron Devices Society
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| Pubblicazione: | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2007 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (x, 168 pages) |
| Disciplina: | 621.3815 |
| Soggetto topico: | Integrated circuits - Reliability |
| Integrated circuits - Reliability - Wafer-scale integration | |
| Note generali: | Includes index. |
| Altri titoli varianti: | 2007 Institute of Electrical and Electronics Engineers International Integrated Reliability Workshop Final Report |
| Titolo autorizzato: | 2007 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report |
| ISBN: | 1-5090-8459-2 |
| 9781424417726 | |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910139130803321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |