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Advances in X-Ray Analysis : Proceedings of the 42 Annual Conference of Applications of X-Ray Analysis, held August 2-6, 1993, in Denver, Colorado / edited by John V. Gilfrich ... [et al.]



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Autore: Gilfrich, John V. Visualizza persona
Titolo: Advances in X-Ray Analysis : Proceedings of the 42 Annual Conference of Applications of X-Ray Analysis, held August 2-6, 1993, in Denver, Colorado / edited by John V. Gilfrich ... [et al.] Visualizza cluster
Pubblicazione: New York : Plenum Press, 1994
Descrizione fisica: xxi, 756 p. ; 25 cm
Disciplina: 548
Soggetto non controllato: Cristallografia
Raggi x
Titolo autorizzato: Advances in X-Ray Analysis  Visualizza cluster
ISBN: 0-306-44901-3
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 990001119040403321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Collocazione: 37-025.037
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