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Advances in X-Ray Analysis : Proceedings of the combined First Pacific-International Congress on X-Ray Analysis Analytical Methods (PICXAM) and fortieth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, held August 7-16, 1991, in Hilo and Honolulu, Hawaii / Edited by Charles S. Barrett, John V. Gilfrich ... [et al.]



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Autore: Barrett, Charles Sanborn Visualizza persona
Titolo: Advances in X-Ray Analysis : Proceedings of the combined First Pacific-International Congress on X-Ray Analysis Analytical Methods (PICXAM) and fortieth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, held August 7-16, 1991, in Hilo and Honolulu, Hawaii / Edited by Charles S. Barrett, John V. Gilfrich ... [et al.] Visualizza cluster
Pubblicazione: New York [etc.] : Plenum Press, 1992
Descrizione fisica: xxx, 1333 p. ; 25 cm
Disciplina: 548
Soggetto non controllato: Cristallografia
Raggi x
Persona (resp. second.): Gilfrich, John V.
Titolo autorizzato: Advances in X-Ray Analysis  Visualizza cluster
ISBN: 0-306-44249-3
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 990001112270403321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Collocazione: 37-025.034
37-025.035
Opac: Controlla la disponibilità qui