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Advances in X-Ray Analysis : Proceedings of the 20th Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis held August 11-13, 1971 / Edited by Kurt F.J. Heinrich and C.S. Barrett, J.B. Newkirk and C.O. Ruud



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Autore: Heinrich, Kurt F. J. Visualizza persona
Titolo: Advances in X-Ray Analysis : Proceedings of the 20th Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis held August 11-13, 1971 / Edited by Kurt F.J. Heinrich and C.S. Barrett, J.B. Newkirk and C.O. Ruud Visualizza cluster
Pubblicazione: New York : Plenum Press, 1972
Descrizione fisica: xii, 573 p. ; 25 cm
Disciplina: 548
Soggetto non controllato: Cristallografia
Raggi x
Persona (resp. second.): Barrett, Charles Sanborn
Newkirk, John B.
Ruud, Clayton O.
Titolo autorizzato: Advances in X-Ray Analysis  Visualizza cluster
ISBN: 0-306-38115-X
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 990001090560403321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Collocazione: 37-025.014
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