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Accelerated testing : statistical models, test plans, and data analyses / Wayne Nelson



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Autore: Nelson, Wayne
Titolo: Accelerated testing : statistical models, test plans, and data analyses / Wayne Nelson
Pubblicazione: New York : Wiley & sons, c1990
Descrizione fisica: XIV, 601 p. : ill. ; 24 cm
Disciplina: 519.5
Soggetto non controllato: Statistica matematica
ISBN: 0-471-52277-5
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 990000477700403321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Collocazione: 10 B II 443
Opac: Controlla la disponibilità qui