Vai al contenuto principale della pagina
| Titolo: |
Helium Ion Microscopy / editors Gregor Hlawacek, Armin Gölzhäuser
|
| Pubblicazione: | Cham, : Springer, 2016 |
| Descrizione fisica: | XXIII, 526 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina: | 530(Fisica) |
| 543.54(Spettroscopia molecolare) | |
| 502.82(Microscopia) | |
| 620.5(Nanotecnologia) | |
| 621.39(Microingegneria) | |
| 530.4175(Film sottili) | |
| Persona (resp. second.): | Gölzhäuser, Armin |
| Hlawacek, Gregor | |
| Titolo autorizzato: | Helium Ion Microscopy ![]() |
| Formato: | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | VAN0243589 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico | https://link.springer.com/book/10.1007/978-3-319-41990-9 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |