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Titolo: | Helium Ion Microscopy / editors Gregor Hlawacek, Armin Gölzhäuser |
Pubblicazione: | Cham, : Springer, 2016 |
Descrizione fisica: | XXIII, 526 p. : ill. ; 24 cm |
Disciplina: | 530(Fisica) |
543.54(Spettroscopia molecolare) | |
502.82(Microscopia) | |
620.5(Nanotecnologia) | |
621.39(Microingegneria) | |
530.4175(Film sottili) | |
Persona (resp. second.): | Gölzhäuser, Armin |
Hlawacek, Gregor | |
Titolo autorizzato: | Helium Ion Microscopy |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | VAN0243589 |
Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
Localizzazioni e accesso elettronico | https://link.springer.com/book/10.1007/978-3-319-41990-9 |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |