Transmission Electron Microscopy : Diffraction, Imaging, and Spectrometry / editors C. Barry Carter, David B. Williams
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| Titolo: |
Transmission Electron Microscopy : Diffraction, Imaging, and Spectrometry / editors C. Barry Carter, David B. Williams
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| Pubblicazione: | Cham, : Springer, 2016 |
| Descrizione fisica: | XXXIII, 518 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina: | 543.65(Spettrometria di massa. Spettroscopia di massa) |
| 530.41(Fisica dello stato solido) | |
| 502.82(Microscopia) | |
| 620.5(Nanotecnologia) | |
| 620.1(Scienze dei materiali) | |
| Persona (resp. second.): | Carter, C. Barry |
| Williams, David B. | |
| Titolo autorizzato: | Transmission Electron Microscopy |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | VAN0241599 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico | https://link.springer.com/book/10.1007/978-3-319-26651-0 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |