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Advanced mathematical tools in metrology 2. / edited by P. Ciarlini... [et al.]



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Titolo: Advanced mathematical tools in metrology 2. / edited by P. Ciarlini... [et al.] Visualizza cluster
Pubblicazione: Singapore, : World Scientic, 1996
Descrizione fisica: ix, 287 p. ; 23 cm.
Soggetto topico: 00B25 - Proceedings of conferences of miscellaneous specific interest [MSC 2020]
62Nxx - Survival analysis and censored data [MSC 2020]
62Pxx - Applications of statistics [MSC 2020]
Persona (resp. second.): Ciarlini, Patrizia
Titolo autorizzato: Advanced mathematical tools in metrology 2  Visualizza cluster
ISBN: 98-10-22618-7
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: VAN0027081
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
Opac: Controlla la disponibilità qui
Serie: Series on advances in mathematics for applied sciences Singapore . -World scientific. ; 40