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Kelvin Probe Force Microscopy : Measuring and Compensating Electrostatic Forces / Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel editors



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Titolo: Kelvin Probe Force Microscopy : Measuring and Compensating Electrostatic Forces / Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel editors Visualizza cluster
Pubblicazione: Heidelberg, : Springer, 2012
Descrizione fisica: XIV, 331 p. : ill. ; 24 cm
Disciplina: 621.4022(Ingegneria termica. Trasmissione del calore)
536.7(Termodinamica)
621.4021(Ingegneria termica. Termodinamica)
530.4175(Film sottili)
Persona (resp. second.): Glatzel, Thilo
Sadewasser, Sascha
Titolo autorizzato: Kelvin Probe Force Microscopy  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: VAN00254851
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
Localizzazioni e accesso elettronico https://link.springer.com/openurl?genre=book&isbn=978-3-642-22566-6
Opac: Controlla la disponibilità qui
Serie: Springer Series in Surface Sciences Berlin [etc.] . -Springer ; 48