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| Titolo: |
Kelvin Probe Force Microscopy : Measuring and Compensating Electrostatic Forces / Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel editors
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| Pubblicazione: | Heidelberg, : Springer, 2012 |
| Descrizione fisica: | XIV, 331 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina: | 621.4022(Ingegneria termica. Trasmissione del calore) |
| 536.7(Termodinamica) | |
| 621.4021(Ingegneria termica. Termodinamica) | |
| 530.4175(Film sottili) | |
| Persona (resp. second.): | Glatzel, Thilo |
| Sadewasser, Sascha | |
| Titolo autorizzato: | Kelvin Probe Force Microscopy ![]() |
| Formato: | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | VAN00254851 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico | https://link.springer.com/openurl?genre=book&isbn=978-3-642-22566-6 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |